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浙江質(zhì)量顯微CT調(diào)試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024年03月30日

SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時(shí)間和背景校正。而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實(shí)測的信號強(qiáng)度。正是因?yàn)檫@個(gè)原因,SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS泡沫材料重建數(shù)據(jù)的多體積圖像和彩色編碼結(jié)構(gòu)分離同時(shí)顯示了泡沫泡孔的直徑以及開孔泡沫鎳支柱的中空特征。像素大小1.0μm泡沫材料在工業(yè)上有許多的應(yīng)用。根據(jù)泡沫的材質(zhì)和結(jié)構(gòu)特性,可以用作隔熱或隔音材料,也可以用作保護(hù)或過濾裝置中的減震結(jié)構(gòu)……XRM可以無損地實(shí)現(xiàn)泡沫內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維可視化。1.確定局部結(jié)構(gòu)的厚度2.確定結(jié)構(gòu)間隔以實(shí)現(xiàn)空隙網(wǎng)絡(luò)的可視化3.通過壓縮和拉伸臺進(jìn)行原位力學(xué)試驗(yàn)4.確定開孔孔隙度和閉孔孔隙度。通過使用加熱臺和冷卻臺,可在非環(huán)境條件下檢測樣品,從而評估溫度對樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。浙江質(zhì)量顯微CT調(diào)試

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SKYSCAN2214功能光源00:00/01:47高清1xSKYSCAN2214采用全新一代的開放型X光源。該光源可達(dá)到優(yōu)于500nm的實(shí)際空間分辨率,高達(dá)160keV的X光能量,以及高達(dá)16W的功率。因?yàn)閾碛袠O其簡單的預(yù)先配準(zhǔn)的燈絲更換程序,該光源幾乎不需要維護(hù)。SKYSCAN2214擁有帶金剛石窗口的開放型(泵式)納米焦點(diǎn)X光源。它能產(chǎn)生峰能量從20kV到160keV不等的X光束,并提供有兩種類型的陰極。鎢(W)陰極適用于較高達(dá)到160kV的完整加速電壓范圍,光斑尺寸小達(dá)到800nm。六硼化鑭(LaB6)陰極適用于從20kV到100kV的加速電壓,X光束的光斑尺寸可以小于500nm,從而確保在成像和三維重建中達(dá)到最高分辨率。JIMA分辨率測試卡顯示,它能輕松解析出500nm的結(jié)構(gòu)。為了確保焦斑尺寸和發(fā)射源的位置能夠長期保持穩(wěn)定,X光源還能配備水冷系統(tǒng),該系統(tǒng)含有一個(gè)循環(huán)裝置,能準(zhǔn)確地控制冷卻液體的溫度以維持溫度的穩(wěn)定。浙江質(zhì)量顯微CT調(diào)試SKYSCAN 1272 可以選擇配合一個(gè)有16個(gè)位置的外置自動進(jìn)樣器,以增加進(jìn)行質(zhì)量控制和常規(guī)分析時(shí)的處理速度。

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VGSTUDIOMAX為您提供了不同的模塊,覆蓋了豐富的工業(yè)應(yīng)用1.哪怕是組件上難進(jìn)入的表面,也可進(jìn)行測量(坐標(biāo)測量模塊)2.以非破壞性的方式,發(fā)現(xiàn)鑄件的缺陷,包括氣孔預(yù)測(孔隙度/夾雜物分析模塊)3.根據(jù)規(guī)范P201和P202進(jìn)行缺陷分析(孔隙率/夾雜物增強(qiáng)版分析模塊)4.用CAD數(shù)據(jù)、網(wǎng)格數(shù)據(jù)(.stl)或其他體數(shù)據(jù),來比較制造的零件(名義/實(shí)際比較模塊)5.壁厚分析:對壁厚或間隙寬度不足或過大的區(qū)域進(jìn)行定位(壁厚分析模塊)6.通過在不同的場景中模塊化使用宏來實(shí)現(xiàn)自動化7.測定多孔泡沫和過濾材料中的孔結(jié)構(gòu)(泡沫結(jié)構(gòu)分析模塊)8.計(jì)算復(fù)合材料中的纖維取向及其他相關(guān)參數(shù)(纖維復(fù)合材料分析模塊)9.直接基于CT數(shù)據(jù),進(jìn)行機(jī)械應(yīng)力無損模擬的虛擬應(yīng)力測試(結(jié)構(gòu)力學(xué)模擬模塊)10.流動和擴(kuò)散實(shí)驗(yàn),例如,對多孔材料或復(fù)合材料的CT掃描進(jìn)行實(shí)驗(yàn)(運(yùn)輸現(xiàn)象模塊)

需按下啟動按鈕即可啟動μCT快速桌面解決方案!超高速度、圖像SKYSCAN1275專為快速掃描多種樣品而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)采用一個(gè)功能強(qiáng)大的廣角X射線源(100kV)和高效的大型平板探測器,可以輕松實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品掃描。由于X射線源到探測器的距離較短以及快速的探測器讀出能力,SKYSCAN1275可以顯著提高工作效率——從幾小時(shí)縮短至幾分鐘,并保證不降低圖像質(zhì)量。SKYSCAN1275如此迅速,甚至可以實(shí)現(xiàn)四維動態(tài)成像。Push-Button-CT?讓操作變得極為簡單您只需選擇手動或自動插入一個(gè)樣品,就可以自動獲得完整的三維容積,無需其他操作。Push-Button-CT包含了所有工作流程:自動樣品尺寸檢測、樣品掃描、三維重建以及三維可視化。選配自動進(jìn)樣器,SKYSCAN1275可以全天候工作。靈活易用、功能除了Push-Button-CT模式,SKYSCAN1275還可以提供有經(jīng)驗(yàn)用戶所期待的μCT系統(tǒng)功能。所有測量都支持手動設(shè)置,從而確保為難度較大的樣本設(shè)置參數(shù)。即使在分辨率低于5μm的情況下,典型掃描時(shí)間也在15分鐘以內(nèi)。無隱性成本:一款免維護(hù)的桌面μCT封閉式X射線管支持全天候工作,不存在因更換破損的燈絲而停機(jī)的情況,為您節(jié)約大量時(shí)間和成本。SkyScan 2214為油氣勘探,復(fù)合材料,鋰電池,燃料電池,電子組件等材料的成像和建模提供了獨(dú)特的解決方案。

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§Nrecon重建軟件,包含GPU加速軟件使用修正的Feldkamp多層體積(錐束)重建算法。單層或選定/全體積在一個(gè)掃描后也能重建。全橫截面尺寸(全圖模式),部分重建模式,大于視場的局部細(xì)節(jié)重建。自動位移校正,環(huán)狀物校正,可調(diào)平滑,射束硬化校正,探測器死像素校準(zhǔn),熱漂移補(bǔ)償,長樣品部分掃描的自動重建、繪圖尺,自動和手動選擇的灰度視窗等等。輸出格式:16bitTIFF,8bitJPEG,8bitBMP,8bitPNG,textformat。GPU加速版可提高速度5-20倍,取決于所處理圖像的大小。XRM根據(jù)密度不同來進(jìn)行區(qū)域劃分,包括孔隙網(wǎng)絡(luò)。浙江質(zhì)量顯微CT調(diào)試

Bruker Micro-CT 可廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域:原材料、合成材料、合成材料、其他。浙江質(zhì)量顯微CT調(diào)試

SkyScan2214為油氣勘探,復(fù)合材料,鋰電池,燃料電池,電子組件等材料的三維成像和精確建模提供了獨(dú)特的解決方案。該儀器可接受300mm大小的物體,并為小尺寸和中等尺寸(10cm范圍左右)樣品掃描提供亞微米級的分辨率。該系統(tǒng)可選擇圓形和螺旋掃描軌跡進(jìn)行樣品掃描,并提供世界上甚快的分層重建(InstaRecon®)軟件,和獲得特有技術(shù)(許可)的精確的螺旋重建算法,為精細(xì)測量提供高精度信息。·開放式納米焦點(diǎn)金剛石光源,降低使用成本··多探測器自動切換(甚多可選4個(gè)),可選擇適用于中小尺寸樣品成像的高靈敏度CCD探測器和適用于大尺寸樣品、快速掃描的高分辨率CMOS平板探測器··11軸高精度定位系統(tǒng),精度優(yōu)于50nm··三維空間分辨率優(yōu)于500nm,甚小像素尺寸優(yōu)于60nm浙江質(zhì)量顯微CT調(diào)試

標(biāo)簽: 顯微CT XRD衍射儀
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