測(cè)試系統(tǒng)搭建和介紹任何測(cè)試系統(tǒng)的搭建都是以測(cè)試目的為導(dǎo)向的，在測(cè)試之前一定要明確測(cè)試目的。對(duì)于完整的USB2.0信號(hào)完整性測(cè)試，需要對(duì)TX端和RX端都進(jìn)行完整的測(cè)試，但是對(duì)于大多數(shù)廠商來(lái)講，可能只能完成基本的TX端測(cè)試。我們這個(gè)測(cè)試也只對(duì)TX端進(jìn)行測(cè)試，所以測(cè)試的系統(tǒng)就是一臺(tái)示波器、DUT、測(cè)試夾具和測(cè)試線纜。示波器：TektronixTDS7704B，帶寬為7GHz，采樣率為20GS/s；測(cè)試探針：TektronixP7330/P7240USB2.0testfixture；測(cè)試夾具：TDSUSBFUSB2.0ComplianceTestFixtureWithPowerAdapter；測(cè)試軟件：?USBHighSpeedElectricalTestToolRev:1.10；?TDSUSB2TestPackageApplicationV3.0.2；Tektronix的USB2.0發(fā)送端一致性測(cè)試軟件TDSUSB2可以支持嵌入（Embed)、去嵌入（De-embed）的功能，這對(duì)研發(fā)工程師的作用非常大。在軟件中還直接內(nèi)置提供Host和Device的一致性通道傳遞函數(shù)，可以嵌入一致性通道模型，完成對(duì)一致性測(cè)試的要求，這主要體現(xiàn)在包含了測(cè)試過(guò)程中加入了長(zhǎng)通道和短通道的S參數(shù)在其中，這時(shí)不管你是做的Host端的產(chǎn)品還是Device端的產(chǎn)品，只要在測(cè)試時(shí)選擇對(duì)應(yīng)參數(shù)即可真實(shí)的使用情況。這樣也符合一致性測(cè)試規(guī)范。USB物理層測(cè)試是否需要對(duì)不同操作系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試？PCI-E測(cè)試USB物理層測(cè)試測(cè)試流程

USB4.0技術(shù)簡(jiǎn)介USB全稱(chēng)UniversalSerialBus(通用串行總線)，早在1994年被眾多電腦廠商采納用以解決當(dāng)時(shí)接口不統(tǒng)一的問(wèn)題。在隨后二十多年時(shí)間里，USB技術(shù)不斷發(fā)展，標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)歷了USB1.0/1.1、USB2.0、USB3.0、USB3.1到USB3.2，直到現(xiàn)在的USB4.0。USB4.0直接采用的是Intel和Apple從2015年在筆記本電腦上推出的、基于Type-C接口的“雷電”Thunderbolt3協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)，數(shù)據(jù)傳輸速率支持10Gbps/lane和20Gbps/lane兩種速率，選擇性地支持TBT3-compatible10.3125Gbps/lane和20.625Gbps/lane兩種速率；同時(shí)，通過(guò)交替模式(ALTmode)支持DisplayPort，PCIE等信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)。為了避免混淆，Intel將未來(lái)準(zhǔn)備在筆記本電腦上部署的Thunderbolt接口，統(tǒng)一命名為T(mén)hunderbolt4.0。PCI-E測(cè)試USB物理層測(cè)試測(cè)試流程USB物理層測(cè)試是否涵蓋對(duì)傳輸線路的損耗測(cè)試？

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出，都考慮到了對(duì)前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強(qiáng)的供電能力及對(duì)多協(xié)議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實(shí)現(xiàn)。由于USB總線的信號(hào)速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜，所以給設(shè)計(jì)和測(cè)試驗(yàn)證工作帶來(lái)了挑戰(zhàn)，對(duì)于測(cè)試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細(xì)介紹其相關(guān)的電氣性能測(cè)試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱(chēng)為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開(kāi)介紹。

a)USB-IFUSB4ETT軟件下圖是USB-IF新推出的USB4ETT(USB4.0ElectricalTestTool)工具的實(shí)際界面，它可以通過(guò)USB4ElectricalTestT；手動(dòng)控制)或者USB4ElectricalTestToolCLI.exe(commandlineinterface；自動(dòng)化編程控制)兩種方式，使被測(cè)設(shè)備產(chǎn)生必須的測(cè)試碼型。b)TransmitterPresetCalibrationUSB4.0信號(hào)為了補(bǔ)償有損鏈路帶來(lái)的損耗，定義了16種發(fā)送端均衡(Preset0~Preset15)，測(cè)試規(guī)范規(guī)定在做發(fā)送端測(cè)試前，需要對(duì)每一個(gè)接口的每一對(duì)高速信號(hào)支持的每一種速率分別做Preset的校準(zhǔn)，選擇能夠提供值小DDJ值的Preset值，把它設(shè)定到被測(cè)體的固件里，作為后續(xù)驗(yàn)證的基礎(chǔ)。USB3.0眼圖測(cè)試方法 USB3.0物理層測(cè)試 USB3.0眼圖測(cè)試。

要測(cè)試USB2.0設(shè)備的電源輸出和充電性能，可以按照以下步驟進(jìn)行：選擇合適的測(cè)試儀器：選擇適用于電源輸出和充電測(cè)試的測(cè)試儀器，如功率計(jì)、電流表、電壓表等。確保這些儀器符合測(cè)量要求，并具備足夠的精度和準(zhǔn)確度。測(cè)試電源輸出：連接要測(cè)試的USB2.0設(shè)備到計(jì)算機(jī)或電源適配器，確保設(shè)備正常工作并供電。使用功率計(jì)測(cè)量設(shè)備的電源輸出功率。將功率計(jì)插入到設(shè)備和電源之間，并記錄輸出功率值。檢查輸出功率是否在設(shè)備規(guī)格范圍內(nèi)。根據(jù)設(shè)備規(guī)格，驗(yàn)證輸出功率是否滿足要求。USB物理層測(cè)試是否包括對(duì)超級(jí)速度USB（USB 3.1及更高版本）的測(cè)試？PCI-E測(cè)試USB物理層測(cè)試測(cè)試流程

如何測(cè)試USB接口在高溫環(huán)境下的性能？PCI-E測(cè)試USB物理層測(cè)試測(cè)試流程

分析信號(hào)：檢查測(cè)量結(jié)果以評(píng)估信號(hào)的質(zhì)量和完整性。關(guān)注以下方面：幅度：評(píng)估信號(hào)的幅度是否達(dá)到規(guī)范要求。波形：檢查信號(hào)的波形是否符合USB2.0標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。噪音：分析信號(hào)中的噪音水平，確保其在規(guī)定范圍內(nèi)。驗(yàn)證結(jié)果：將測(cè)量得到的信號(hào)質(zhì)量與USB2.0標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行比較，判斷設(shè)備是否具有良好的信號(hào)完整性。需要注意的是，信號(hào)完整性測(cè)試應(yīng)當(dāng)進(jìn)行多個(gè)頻率和幅度的測(cè)試，并在不同條件下進(jìn)行，以評(píng)估設(shè)備在各種傳輸情況下的信號(hào)質(zhì)量。此外，在進(jìn)行信號(hào)完整性測(cè)試時(shí)，還應(yīng)該注意測(cè)試環(huán)境的穩(wěn)定性，避免外界干擾對(duì)測(cè)試結(jié)果造成影響。通過(guò)進(jìn)行USB2.0信號(hào)完整性測(cè)試，可以確保設(shè)備提供穩(wěn)定、高質(zhì)量的信號(hào)傳輸。這能夠保證數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃裕苊庖蛐盘?hào)質(zhì)量不佳而導(dǎo)致的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤或丟失。另外，信號(hào)完整性測(cè)試還有助于驗(yàn)證設(shè)備是否符合USB2.0標(biāo)準(zhǔn)并為設(shè)備的改進(jìn)和優(yōu)化提供參考支持。PCI-E測(cè)試USB物理層測(cè)試測(cè)試流程