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上海布魯克XRD衍射儀哪里好

來源: 發布時間:2024年11月20日

殘余應力分析::在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr輻射進行測量,對鋼構件的殘余應力進行分析。使用了2D檢測器的μXRD:使用DIFFRAC.EVA,測定小區域結構特性。通過積分2D圖像,進行1D掃描,來進行定性相分析和微觀結構分析。定性相分析:候選材料鑒別(PMI)為常見,這是因為其對原子結構十分靈敏,而這無法通過元素分析技術實現。高通量篩選(HTS):在DIFFRAC.EVA中,進行半定量分析,以現實孔板上不同相的濃度。非環境XRD:在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結果。小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行粒度分析。根據應用需求,調節探測器的位置和方向,包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續變化、支持自動對光。上海布魯克XRD衍射儀哪里好

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所有維度都非常好的數據質量不論在何種應用場合,它都是您的可選的探測器:高的計數率、動態范圍和能量分辨率,峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內的準直保證,面向未來的多用途采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計,布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統無需人工干預,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預,是在環境下和非環境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。浙江布魯克XRD衍射儀推薦咨詢更換光學期間時,無需工具,亦無需對光,因此您可輕松快速地更改配置。

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X射線衍射(XRD)和反射率是對薄層結構樣品進行無損表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析:掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識別及結構性質測定,包括微晶尺寸和應變。X射線反射率測量(XRR):用于提取從簡單的基底到高度復雜的超晶格結構等多層樣品的厚度、材料密度和界面結構信息。高分辨率X射線衍射(HRXRD):用于分析外延生長結構:層厚度、應變、弛豫、鑲嵌、混合晶體的成分分析。應力和織構(擇優取向)分析。

X射線粉末衍射(XRPD)技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡單地實施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結構分析(微晶尺寸、微應變、無序…)熱處理或加工制造組件產生的大量殘余應力織構(擇優取向)分析指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修,由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。D8D為藥品的整個生命周期提供支持,包括結構測定、候選材料鑒別、配方定量和非環境穩定性測試。

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D8DISCOVER特點:微焦源IμS配備了MONTEL光學器件的IμS微焦源可提供小X射線束,非常適合小范圍或小樣品的研究。1.毫米大小的光束:高亮度和很低背景2.綠色環保設計:低功耗、無耗水、使用壽命延長3.MONTEL光學器件可優化光束形狀和發散度4.與布魯克大量組件、光學器件和探測器完全兼容。5.提供各種技術前列的全集成X射線源,用于產生X射線。6.工業級金屬陶瓷密封管,可實現線焦斑或點焦斑。7.專業的TWIST-TUBE(旋轉光管)技術,可快速簡便地切換線焦斑和點焦斑。8.微焦斑X射線源(IμS)可提高極小焦斑面積上的X射線通量,而功耗卻很低。9.TURBOX射線源(TXS)旋轉陽極可為線焦斑、點焦斑和微焦斑等應用提供比較高X射線通量。10.性液態金屬靶METALJET技術,可提供無出其右的X射線光源亮度。11.高效TurboX射線源(TXS-HE)可為點焦斑和線焦斑應用提供比較高X射線通量,適用于D8DISCOVERPlus。12.這些X射線源結合指定使用X射線光學元件,可高效捕獲X射線,并將之轉化為針對您的應用而優化的X射線束。X射線反射法、掠入射衍射(GID)、面內衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI應力分析、晶體取向分析。江西全新XRD衍射儀配件

新結構測定以及多晶篩選是藥物開發的關鍵步驟,對此,D8 DISCOVER具有高通量篩選功能。上海布魯克XRD衍射儀哪里好

材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器,主要用于研究和質控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數方法研究晶體結構、研究快速可靠的SAXS測量的納米結構或研究微觀結構(微晶尺寸)。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑(PDF)Er-Melilite的晶體結構(PDF)陽極焦炭(LC值)分析(PDF)DIFFRAC.DQUANT:對殘余奧氏體進行合規量化(PDF)布魯克為礦物和采礦業提供了先進的解決方案,旨在以可靠的方式,支持地質學家和礦產勘探者隨時隨地開展礦床發現和分析工作。上海布魯克XRD衍射儀哪里好

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