對(duì)學(xué)電子器件的人而言，在電路板上設(shè)定測試點(diǎn)（testpoint）是在當(dāng)然但是的事了，但是對(duì)學(xué)機(jī)械設(shè)備的人而言，測試點(diǎn)是啥？大部分設(shè)定測試點(diǎn)的目地是為了更好地測試電路板上的零組件是否有合乎規(guī)格型號(hào)及其焊性，例如想查驗(yàn)一顆電路板上的電阻器是否有難題，非常簡單的方式便是拿萬用電表測量其兩邊就可以知道。但是在批量生產(chǎn)的加工廠里沒有辦法給你用電度表漸漸地去量測每一片木板上的每一顆電阻器、電容器、電感器、乃至是IC的電源電路是不是恰當(dāng)，因此就擁有說白了的ICT（In-Circuit-Test）自動(dòng)化技術(shù)測試機(jī)器設(shè)備的出現(xiàn)，它應(yīng)用多條探針（一般稱作「針床（Bed-Of-Nails）」夾具）另外觸碰木板上全部必須被測量的零件路線，隨后經(jīng)過程序控制以編碼序列為主導(dǎo)，并排輔助的方法順序測量這種電子零件的特點(diǎn)，一般那樣測試一般木板的全部零件只必須1~2分鐘上下的時(shí)間能夠進(jìn)行，視電路板上的零件多少而定，零件越多時(shí)間越長。可是假如讓這種探針直接接觸到木板上邊的電子零件或者其焊腳，很有可能會(huì)壓毀一些電子零件，反倒得不償失，因此聰慧的技術(shù)工程師就創(chuàng)造發(fā)明了「測試點(diǎn)」，在零件的兩邊附加引出來一對(duì)環(huán)形的小一點(diǎn)，上邊沒有防焊（mask）。本公司是專業(yè)提供PCB設(shè)計(jì)與生產(chǎn)線路板生產(chǎn)廠家，多年行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，類型齊全！歡迎咨詢！廣東全自動(dòng)pcb廠家批發(fā)價(jià)

PCB設(shè)計(jì)的原件封裝：（1）焊盤間距。如果是新的器件，要自己畫元件封裝，保證間距合適。焊盤間距直接影響到元件的焊接。（2）過孔大小（如果有）。對(duì)于插件式器件，過孔大小應(yīng)該保留足夠的余量，一般保留不小于0.2mm比較合適。（3）輪廓絲印。器件的輪廓絲印比較好比實(shí)際大小要大一點(diǎn)，保證器件可以順利安裝。PCB設(shè)計(jì)的布局（1）IC不宜靠近板邊。（2）同一模塊電路的器件應(yīng)靠近擺放。比如去耦電容應(yīng)該靠近IC的電源腳，組成同一個(gè)功能電路的器件應(yīng)優(yōu)先擺放在同一個(gè)區(qū)域，層次分明，保證功能的實(shí)現(xiàn)。（3）根據(jù)實(shí)際安裝來安排插座位置。插座都是通過引線連接到其他模塊的，根據(jù)實(shí)際結(jié)構(gòu)，為了安裝方便，一般采用就近原則安排插座位置，而且一般靠近板邊。（4）注意插座方向。插座都是有方向的，方向反了，線材就要重新定做。對(duì)于平插的插座，插口方向應(yīng)朝向板外。（5）KeepOut區(qū)域不能有器件。（6）干擾源要遠(yuǎn)離敏感電路。高速信號(hào)、高速時(shí)鐘或者大電流開關(guān)信號(hào)都屬于干擾源，應(yīng)遠(yuǎn)離敏感電路（如復(fù)位電路、模擬電路）。可以用鋪地來隔開它們。云南自動(dòng)pcb廠家批發(fā)價(jià)專業(yè)中小批量線路板設(shè)計(jì)（PCB設(shè)計(jì)）！價(jià)格優(yōu)惠，歡迎咨詢！

傳輸線的端接通常采用2種策略：使負(fù)載阻抗與傳輸線阻抗匹配，即并行端接；使源阻抗與傳輸線阻抗匹配，即串行端接。(1)并行端接并行端接主要是在盡量靠近負(fù)載端的位置接上拉或下拉阻抗，以實(shí)現(xiàn)終端的阻抗匹配，根據(jù)不同的應(yīng)用環(huán)境，并行端接又可以分為如圖2所示的幾種類型。(2)串行端接串行端接是通過在盡量靠近源端的位置串行插入一個(gè)電阻到傳輸線中來實(shí)現(xiàn)，串行端接是匹配信號(hào)源的阻抗，所插入的串行電阻阻值加上驅(qū)動(dòng)源的輸出阻抗應(yīng)大于等于傳輸線阻抗。這種策略通過使源端反射系數(shù)為零，從而壓制從負(fù)載反射回來的信號(hào)(負(fù)載端輸入高阻，不吸收能量)再從源端反射回負(fù)載端。不同工藝器件的端接技術(shù)阻抗匹配與端接技術(shù)方案隨著互聯(lián)長度、電路中邏輯器件系列的不同，也會(huì)有所不同。只有針對(duì)具體情況，使用正確、適當(dāng)?shù)亩私臃椒ú拍苡行У販p少信號(hào)反射。一般來說，對(duì)于一個(gè)CMOS工藝的驅(qū)動(dòng)源，其輸出阻抗值較穩(wěn)定且接近傳輸線的阻抗值，因此對(duì)于CMOS器件使用串行端接技術(shù)就會(huì)獲得較好的效果；而TTL工藝的驅(qū)動(dòng)源在輸出邏輯高電平和低電平時(shí)其輸出阻抗有所不同。這時(shí)，使用并行戴維寧端接方案則是一個(gè)較好的策略；ECL器件一般都具有很低的輸出阻抗。

合理進(jìn)行電路建模仿真是較常見的信號(hào)完整性解決方法，在高速電路設(shè)計(jì)中，仿真分析越來越顯示出優(yōu)越性。它給設(shè)計(jì)者以準(zhǔn)確、直觀的設(shè)計(jì)結(jié)果，便于及早發(fā)現(xiàn)問題，及時(shí)修改，從而縮短設(shè)計(jì)時(shí)間，降低設(shè)計(jì)成本。常用的有3種：SPICE模型，IBIS模型，Verilog-A模型。SPICE是一種功能強(qiáng)大的通用模擬電路仿真器。它由兩部分組成：模型方程式(ModelEquation)和模型參數(shù)(ModelParameters)。由于提供了模型方程式，因而可以把SPICE模型與仿真器的算法非常緊密地連接起來，可以獲得更好的分析效率和分析結(jié)果；IBIS模型是專門用于PCB板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)的數(shù)字信號(hào)完整性分析的模型。它采用I/V和V/T表的形式來描述數(shù)字集成電路I/O單元和引腳的特性，IBIS模型的分析精度主要取決于1/V和V/T表的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)和數(shù)據(jù)的精確度，與SPICE模型相比，IBIS模型的計(jì)算量很小。我們不僅能PCB設(shè)計(jì)，還能提供電路板打樣，加急24小時(shí)交貨！

而是板級(jí)設(shè)計(jì)中多種因素共同引起的，主要的信號(hào)完整性問題包括反射、振鈴、地彈、串?dāng)_等，下面主要介紹串?dāng)_和反射的解決方法。串?dāng)_分析：串?dāng)_是指當(dāng)信號(hào)在傳輸線上傳播時(shí)，因電磁耦合對(duì)相鄰的傳輸線產(chǎn)生不期望的電壓噪聲干擾。過大的串?dāng)_可能引起電路的誤觸發(fā)，導(dǎo)致系統(tǒng)無法正常工作。由于串?dāng)_大小與線間距成反比，與線平行長度成正比。串?dāng)_隨電路負(fù)載的變化而變化，對(duì)于相同拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和布線情況，負(fù)載越大，串?dāng)_越大。串?dāng)_與信號(hào)頻率成正比，在數(shù)字電路中，信號(hào)的邊沿變化對(duì)串?dāng)_的影響比較大，邊沿變化越快，串?dāng)_越大。針對(duì)以上這些串?dāng)_的特性，可以歸納為以下幾種減小串?dāng)_的方法：(1)在可能的情況下降低信號(hào)沿的變換速率。通過在器件選型的時(shí)候，在滿足設(shè)計(jì)規(guī)范的同時(shí)應(yīng)盡量選擇慢速的器件，并且避免不同種類的信號(hào)混合使用，因?yàn)榭焖僮儞Q的信號(hào)對(duì)慢變換的信號(hào)有潛在的串?dāng)_危險(xiǎn)。(2)容性耦合和感性耦合產(chǎn)生的串?dāng)_隨受干擾線路負(fù)載阻抗的增大而增大，所以減小負(fù)載可以減小耦合干擾的影響。(3)在布線條件許可的情況下，盡量減小相鄰傳輸線間的平行長度或者增大可能發(fā)生容性耦合導(dǎo)線之間的距離，如采用3W原則。，專業(yè)PCB設(shè)計(jì)，高精密多層PCB板，24小時(shí)快速打樣！上海6層pcb咨詢問價(jià)

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能夠讓測試用的探針觸碰到這種小一點(diǎn)，而無需直接接觸到這些被測量的電子零件。初期在電路板上面還全是傳統(tǒng)式軟件（DIP）的時(shí)代，確實(shí)會(huì)拿零件的焊孔來作為測試點(diǎn)來用，由于傳統(tǒng)式零件的焊孔夠健壯，不害怕針刺，但是常常會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的錯(cuò)判情況產(chǎn)生，由于一般的電子零件歷經(jīng)波峰焊機(jī)（wavesoldering）或者SMT吃錫以后，在其焊錫絲的表層一般都是會(huì)產(chǎn)生一層助焊膏助焊劑的殘余塑料薄膜，這層塑料薄膜的特性阻抗十分高，經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致探針的接觸不良現(xiàn)象，因此那時(shí)候常常由此可見生產(chǎn)線的測試操作工，常常拿著氣體噴漆拼了命的吹，或者拿酒精擦拭這種必須測試的地區(qū)。實(shí)際上歷經(jīng)波峰焊機(jī)的測試點(diǎn)也會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的難題。之后SMT風(fēng)靡以后，測試錯(cuò)判的情況就獲得了非常大的改進(jìn)，測試點(diǎn)的運(yùn)用也被較高的地授予重?fù)?dān)，由于SMT的零件一般很敏感，沒法承擔(dān)測試探針的立即接觸壓力，應(yīng)用測試點(diǎn)就可以無需讓探針直接接觸到零件以及焊孔，不只維護(hù)零件不受傷，也間接性較高的地提高測試的靠譜度，由于錯(cuò)判的情況越來越少了。但是伴隨著高新科技的演變，線路板的規(guī)格也愈來愈小，小小的地電路板上面光源要擠下這么多的電子零件都早已一些費(fèi)勁了。廣東全自動(dòng)pcb廠家批發(fā)價(jià)

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