對(duì)學(xué)電子器件的人而言,在電路板上設(shè)定測(cè)試點(diǎn)(testpoint)是在當(dāng)然但是的事了,但是對(duì)學(xué)機(jī)械設(shè)備的人而言,測(cè)試點(diǎn)是啥?大部分設(shè)定測(cè)試點(diǎn)的目地是為了更好地測(cè)試電路板上的零組件是否有合乎規(guī)格型號(hào)及其焊性,例如想查驗(yàn)一顆電路板上的電阻器是否有難題,非常簡(jiǎn)單的方式便是拿萬(wàn)用電表測(cè)量其兩邊就可以知道。但是在批量生產(chǎn)的加工廠里沒(méi)有辦法給你用電度表漸漸地去量測(cè)每一片木板上的每一顆電阻器、電容器、電感器、乃至是IC的電源電路是不是恰當(dāng),因此就擁有說(shuō)白了的ICT(In-Circuit-Test)自動(dòng)化技術(shù)測(cè)試機(jī)器設(shè)備的出現(xiàn),它應(yīng)用多條探針(一般稱作「針床(Bed-Of-Nails)」夾具)另外觸碰木板上全部必須被測(cè)量的零件路線,隨后經(jīng)過(guò)程序控制以編碼序列為主導(dǎo),并排輔助的方法順序測(cè)量這種電子零件的特點(diǎn),一般那樣測(cè)試一般木板的全部零件只必須1~2分鐘上下的時(shí)間能夠進(jìn)行,視電路板上的零件多少而定,零件越多時(shí)間越長(zhǎng)。可是假如讓這種探針直接接觸到木板上邊的電子零件或者其焊腳,很有可能會(huì)壓毀一些電子零件,反倒得不償失,因此聰慧的技術(shù)工程師就創(chuàng)造發(fā)明了「測(cè)試點(diǎn)」,在零件的兩邊附加引出來(lái)一對(duì)環(huán)形的小一點(diǎn),上邊沒(méi)有防焊(mask)。我們不僅能PCB設(shè)計(jì),還能提供電路板打樣,加急24小時(shí)交貨!重慶全自動(dòng)pcb批發(fā)價(jià)格
過(guò)分的過(guò)沖能夠引起保護(hù)二極管工作,導(dǎo)致其過(guò)早的失效。過(guò)分的下沖能夠引起假的時(shí)鐘或數(shù)據(jù)錯(cuò)誤(誤操作)。振蕩(Ringing)和環(huán)繞振蕩(Rounding)振蕩現(xiàn)象是反復(fù)出現(xiàn)過(guò)沖和下沖。信號(hào)的振蕩即由線上過(guò)渡的電感和電容引起的振蕩,屬于欠阻尼狀態(tài),而環(huán)繞振蕩,屬于過(guò)阻尼狀態(tài)。振蕩和環(huán)繞振蕩同反射一樣也是由多種因素引起的,振蕩可以通過(guò)適當(dāng)?shù)亩私佑枰詼p小,但是不可能完全消除。地電平的反彈噪聲和回流噪聲在電路中有較大的電流涌動(dòng)時(shí)會(huì)引起地平面反彈噪聲,如大量芯片的輸出同時(shí)開(kāi)啟時(shí),將有一個(gè)較大的瞬態(tài)電流在芯片與板的電源平面流過(guò),芯片封裝與電源平面的電感和電阻會(huì)引發(fā)電源噪聲,這樣會(huì)在真正的地平面(OV)上產(chǎn)生電壓的波動(dòng)和變化,這個(gè)噪聲會(huì)影響其他元件的動(dòng)作。負(fù)載電容的增大、負(fù)載電阻的減小、地電感的增大、同時(shí)開(kāi)關(guān)器件數(shù)目的增加均會(huì)導(dǎo)致地彈的增大。由于地電平面(包括電源和地)分割,例如地層被分割為數(shù)字地、模擬地、屏蔽地等,當(dāng)數(shù)字信號(hào)走到模擬地線區(qū)域時(shí),就會(huì)生成地平面回流噪聲。同樣,電源層也可能會(huì)被分割為V,V,5V等。所以在多電壓PCB設(shè)計(jì)中,對(duì)地電平面的反彈噪聲和回流噪聲需要特別注意。信號(hào)完整性問(wèn)題不是由某一單一因素引起的。西藏八層pcb性價(jià)比本公司是專業(yè)提供PCB設(shè)計(jì)與生產(chǎn)線路板生產(chǎn)廠家,多年行業(yè)經(jīng)驗(yàn),類型齊全!歡迎咨詢!
主要的信號(hào)完整性問(wèn)題包括:延遲、反射、同步切換噪聲、振蕩、地彈、串?dāng)_等。信號(hào)完整性是指信號(hào)在電路中能以正確的時(shí)序和電壓做出響應(yīng)的能力,是信號(hào)未受到損傷的一種狀態(tài),它表示信號(hào)在信號(hào)線上的質(zhì)量。延遲(Delay)延遲是指信號(hào)在PCB板的導(dǎo)線上以有限的速度傳輸,信號(hào)從發(fā)送端發(fā)出到達(dá)接收端,其間存在一個(gè)傳輸延遲。信號(hào)的延遲會(huì)對(duì)系統(tǒng)的時(shí)序產(chǎn)生影響,傳輸延遲主要取決于導(dǎo)線的長(zhǎng)度和導(dǎo)線周圍介質(zhì)的介電常數(shù)。在高速數(shù)字系統(tǒng)中,信號(hào)傳輸線長(zhǎng)度是影響時(shí)鐘脈沖相位差的較直接因素,時(shí)鐘脈沖相位差是指同時(shí)產(chǎn)生的兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào),到達(dá)接收端的時(shí)間不同步。時(shí)鐘脈沖相位差降低了信號(hào)沿到達(dá)的可預(yù)測(cè)性,如果時(shí)鐘脈沖相位差太大,會(huì)在接收端產(chǎn)生錯(cuò)誤的信號(hào),如圖1所示,傳輸線時(shí)延已經(jīng)成為時(shí)鐘脈沖周期中的重要部分。反射(Reflection)反射就是子傳輸線上的回波。當(dāng)信號(hào)延遲時(shí)間(Delay)遠(yuǎn)大于信號(hào)跳變時(shí)間(TransitionTime)時(shí),信號(hào)線必須當(dāng)作傳輸線。當(dāng)傳輸線的特性阻抗與負(fù)載阻抗不匹配時(shí),信號(hào)功率(電壓或電流)的一部分傳輸?shù)骄€上并到達(dá)負(fù)載處,但是有一部分被反射了。若負(fù)載阻抗小于原阻抗,反射為負(fù);反之,反射為正。
因此測(cè)試點(diǎn)占有線路板室內(nèi)空間的難題,常常在設(shè)計(jì)方案端與生產(chǎn)制造端中間拔河賽,但是這一議案等之后還有機(jī)會(huì)再說(shuō)談。測(cè)試點(diǎn)的外型一般是環(huán)形,由于探針也是環(huán)形,比較好生產(chǎn)制造,也較為非常容易讓鄰近探針靠得近一點(diǎn),那樣才能夠提升針床的植針相對(duì)密度。1.應(yīng)用針床來(lái)做電源電路測(cè)試會(huì)出現(xiàn)一些組織上的先天性上限定,例如:探針的較少直徑有一定極限,很小直徑的針?lè)浅H菀讛嗔褤p壞。2.針間間距也是有一定限定,由于每一根針必須從一個(gè)孔出去,并且每根針的后端開(kāi)發(fā)都也要再電焊焊接一條扁平電纜,假如鄰近的孔很小,除開(kāi)針與針中間會(huì)出現(xiàn)觸碰短路故障的難題,扁平電纜的干預(yù)也是一大難題。3.一些高零件的邊上沒(méi)法植針。假如探針間距高零件太近便會(huì)有撞擊高零件導(dǎo)致?lián)p害的風(fēng)險(xiǎn)性,此外由于零件較高,一般也要在測(cè)試夾具針床座上打孔繞開(kāi),也間接性導(dǎo)致沒(méi)法植針。電路板上愈來(lái)愈難容下的下全部零件的測(cè)試點(diǎn)。4.因?yàn)槟景逵鷣?lái)愈小,測(cè)試點(diǎn)多少的存廢屢次被拿出來(lái)探討,如今早已擁有一些降低測(cè)試點(diǎn)的方式出現(xiàn),如Nettest、TestJet、BoundaryScan、JTAG.。。等;也是有其他的測(cè)試方式要想替代本來(lái)的針床測(cè)試,如AOI、X-Ray,但現(xiàn)階段每一個(gè)測(cè)試好像都還沒(méi)法。PCB設(shè)計(jì)與生產(chǎn)竟然還有這家?同行用了都說(shuō)好,快速打樣,批量生產(chǎn)!
PCI-Express(peripheralcomponentinterconnectexpress)是一種髙速串行通信電子計(jì)算機(jī)拓展系統(tǒng)總線規(guī)范,它原先的名字為“3GIO”,是由intel在二零零一年明確提出的,致力于取代舊的PCI,PCI-X和AGP系統(tǒng)總線規(guī)范。PCIe歸屬于髙速串行通信點(diǎn)到點(diǎn)雙通道內(nèi)存帶寬測(cè)試傳送,所聯(lián)接的機(jī)器設(shè)備分派私有安全通道網(wǎng)絡(luò)帶寬,不共享資源系統(tǒng)總線網(wǎng)絡(luò)帶寬,關(guān)鍵適用積極電池管理,錯(cuò)誤報(bào)告,端對(duì)端可信性傳送,熱插拔及其服務(wù)水平(QOS)等作用下邊是有關(guān)PCIEPCB設(shè)計(jì)方案的標(biāo)準(zhǔn):1、從火紅金手指邊沿到PCIE集成ic管腳的走線長(zhǎng)度應(yīng)限定在4英寸(約100MM)之內(nèi)。2、PCIE的PERP/N,PETP/N,PECKP/N是三個(gè)差分單挑,留意維護(hù)(差分對(duì)中間的間距、差分對(duì)和全部非PCIE信號(hào)的間距是20MIL,以降低危害串?dāng)_的危害和干擾信號(hào)(EMI)的危害。集成ic及PCIE信號(hào)線背面防止高頻率信號(hào)線,較全GND)。3、差分對(duì)中2條走線的長(zhǎng)度差較多5CIL。2條走線的每一部分都規(guī)定長(zhǎng)度匹配。差分線的圖形界限7MIL,差分對(duì)中2條走線的間隔是7MIL。4、當(dāng)PCIE信號(hào)對(duì)走線換層時(shí),應(yīng)在挨近信號(hào)對(duì)面孔處置放地信號(hào)過(guò)孔,每對(duì)信號(hào)提議置1到3個(gè)地信號(hào)過(guò)孔。PCIE差分對(duì)選用25/14的焊盤,而且2個(gè)過(guò)孔務(wù)必置放的互相對(duì)稱性。,專業(yè)PCB設(shè)計(jì),高精密多層PCB板,24小時(shí)快速打樣!天津pcb報(bào)價(jià)表
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而是板級(jí)設(shè)計(jì)中多種因素共同引起的,主要的信號(hào)完整性問(wèn)題包括反射、振鈴、地彈、串?dāng)_等,下面主要介紹串?dāng)_和反射的解決方法。串?dāng)_分析:串?dāng)_是指當(dāng)信號(hào)在傳輸線上傳播時(shí),因電磁耦合對(duì)相鄰的傳輸線產(chǎn)生不期望的電壓噪聲干擾。過(guò)大的串?dāng)_可能引起電路的誤觸發(fā),導(dǎo)致系統(tǒng)無(wú)法正常工作。由于串?dāng)_大小與線間距成反比,與線平行長(zhǎng)度成正比。串?dāng)_隨電路負(fù)載的變化而變化,對(duì)于相同拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和布線情況,負(fù)載越大,串?dāng)_越大。串?dāng)_與信號(hào)頻率成正比,在數(shù)字電路中,信號(hào)的邊沿變化對(duì)串?dāng)_的影響比較大,邊沿變化越快,串?dāng)_越大。針對(duì)以上這些串?dāng)_的特性,可以歸納為以下幾種減小串?dāng)_的方法:(1)在可能的情況下降低信號(hào)沿的變換速率。通過(guò)在器件選型的時(shí)候,在滿足設(shè)計(jì)規(guī)范的同時(shí)應(yīng)盡量選擇慢速的器件,并且避免不同種類的信號(hào)混合使用,因?yàn)榭焖僮儞Q的信號(hào)對(duì)慢變換的信號(hào)有潛在的串?dāng)_危險(xiǎn)。(2)容性耦合和感性耦合產(chǎn)生的串?dāng)_隨受干擾線路負(fù)載阻抗的增大而增大,所以減小負(fù)載可以減小耦合干擾的影響。(3)在布線條件許可的情況下,盡量減小相鄰傳輸線間的平行長(zhǎng)度或者增大可能發(fā)生容性耦合導(dǎo)線之間的距離,如采用3W原則。重慶全自動(dòng)pcb批發(fā)價(jià)格
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