賦耘清潔度金相顯微鏡系統設備技術參數1、顯微鏡主機(1)特點通過其優良的設計和便捷的控制功能,簡化復雜的顯微檢查任務。用戶不需要長時間的培訓即可掌握顯微鏡的大多數功能。方便而舒適的操作還改善了圖像的再現性,很大程度減少了人為錯誤。簡單的照明器:傳統技術易于操作照明器的設計很大程度減少了顯微鏡操作過程中通常所必須的復雜操作。照明器前端的旋鈕使用戶能夠輕松地改變觀察方法。操作者可以在反射光顯微鏡檢查時快速切換常用的觀察方法,比如從明場觀察到暗場觀察,到偏光觀察,以隨時改變不同類型的分析。(2)、技術參數1)顯微鏡類型:正置式金相顯微鏡;2)放大倍數:50×-500×3)光源類型:LED光源4)目鏡視場數:22mm寬視野;帶屈光度補償、瞳距調節(55~75mm);5)照明方式:反射光,柯勒照明;6)觀察方法:明場7)物鏡轉盤:手動5孔;明場;8)調焦機構精密粗/微調焦機構,帶防滑機構、上限安全保護機構、張力調節機構;9)載物臺:高精度XY平移機械載物臺;行程76×52mm,移動精度;具有耐磨性和抗腐蝕性,帶自鎖機構;10)物鏡類型:平場半復消色差明場物鏡;螢石材料,經消應力、鍍膜防霉處理。金相顯微鏡怎么選擇,貴不貴?金相顯微鏡技術指導
賦耘檢測產品名稱:三目視頻體視顯微鏡產品型號:FY-MMD-3TS1.FY-MMD-3TS體視顯微鏡為日本NIKON提供OEM生產;2.體視顯微鏡和數碼攝像機相連,顯微圖象可實現高分辨率數值化,總像素超過一百三十萬像素的高分辨率,照片進入計算機系統以保存和打印,可按要求實現定倍打印;3.使用的計算機可用筆記本計算機,操作簡單、攜帶方便;4.圖像各種參數測量準確;5.圖片標尺可疊加在照片上,從而始終確定放大倍數,始終滿足實驗報告的要求。金相顯微鏡技術指導賦耘檢測技術(上海)有限公司金相顯微鏡可以用于冷作模具鋼的金相檢驗嗎?
偏光明暗場倒置金相顯微鏡一.產品介紹采用優良的無限遠光學系統與模塊化的功能設計理念,可以方便升級系統,實現偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體,充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態的顯微觀察,是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。觀察系統:鉸鏈式雙目觀察鏡筒,45°傾斜,操作時不需要長時間低頭或平視觀察,使操作者的肩部得到有效釋放。平場廣角目鏡視場數可達直徑22mm,使目鏡視場更為廣闊、舒適,可選配橡膠眼罩。機械載物臺:機械式移動載物平臺,內置可旋轉圓形載物臺板,板中設置的異行觀察窗口適合于不同規格試樣的顯微觀察,在進行偏光觀察時可旋轉圓形載物臺板,以滿足偏光鏡檢的要求。照明系統:采用柯拉照明方式,孔徑光欄與市場光欄可通過撥盤進行孔徑大小調整,調整順暢舒適。選配的起偏鏡可以360°調整偏振角,以觀察不同偏振狀態下的顯微圖像。可選配明暗視場照明器,快速升級產品系統功能。可選擇12V30W與12V50W鹵素燈照明。暗場照明:配置的明暗視場物鏡與暗視場照明裝置,對照明系統的有害光線進行有效消除。
正置金相顯微鏡,觀察面向上,適宜于尋找特定或廣域范圍內表面目標的觀察研究和分析。廣泛應用于電子行業IT、PCB和微顆粒、線材、纖維、表面噴涂等,及材料金相組織結構的檢測、研究和分析工作。廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科研領域。帶有偏光裝置的同軸落射照明系統,圖像清晰、襯度好,適合各種復雜試樣的觀察和攝影。同軸縱橫向移動載物臺及內置多種濾 切換,使操作方便。升降調焦系統帶有限位裝置,可避免試樣與物鏡的磕碰,及大批量檢測時不必重復調焦.賦耘檢測技術(上海)有限公司金相顯微鏡幾何測量,各種形態都可以測量!
倒置金相顯微鏡是國產顯微鏡中比較好的顯微鏡之一,物鏡距樣品距離長,鏡頭轉換方便,顯微鏡比較大放大倍數可達1000倍,并可進行偏光觀察;顯微鏡可和數碼攝像機相連,顯微鏡的圖象可實現高分辨率數值化。用途特點三目倒置金相顯微鏡,用于鑒別和分析各種金屬和合金材料的組織結構;鑄件質量鑒定;原材料檢驗或材料處理后的金相組織分析;以及對表面噴涂、裂紋等表面現象進行研究工作。廣泛應用于工礦企業、實驗室和教學及科研領域。操作時拋光面向下,與試樣的高度和形狀無關,無須鑲嵌,使操作比較方便,適合于較大及各種類型的試樣。儀器造型美觀和制造精細,齊全的配置,適合金相組織及滲層、鍍層、融深和裂紋等的觀察分析。齊焦物鏡組及升降調焦機構帶有鎖緊裝置,可避免試樣與物鏡的磕碰,適應大批量檢測,提高工作效率。顯微鏡具有二路光學輸出,可作常規使用并提供同步影像輸出,擴展攝像或數碼攝影系統,及專業定量金相圖像分析計算機操作系統。鑄鋼件的金相檢驗的金相顯微鏡怎么選擇呢?金相顯微鏡技術指導
金相顯微鏡通常質保幾年?金相顯微鏡技術指導
金相顯微鏡為金相檢測技術提供方便、快捷、無污染的良好條件彩。用明場照明時,夾雜物處的人射光線折人該物相后,在金屬基體與夾雜物界面處反射再返回物鏡,與平整金屬基體處的強反射光匯合成像,使夾雜物的固有色彩被掩蓋,因此明場照明時看不到夾雜物的真實色彩,所示。暗場照明時,由于金屬基體處的反射光不能進入物鏡,因而使夾雜物的本色能清晰呈現,暗場觀察時,因物像的亮度較低,宜采用強光光源。在攝影時對光必須十分仔細,并應選用感光速度較高的照相底片,曝光時間也相應增加。2.偏振光在非金屬夾雜物檢驗中的應用偏光顯微鏡在金相分析中應用較多的是非金屬夾雜物鑒別。非金屬夾雜物的正確判別,往往需要運用金相、巖相、化學分析、X射線衍射及電子探針等多種檢測手段。但其中金相方法為簡便和普遍的途徑。通常用明場、暗場及偏光等照明方式配合觀察。在正交偏振光下一些常見夾雜物的光學特性如下:1)各向同性的不透明夾雜物表面反射光仍為直線偏振光,在正交偏光下被消光,載物臺旋轉360°時該夾雜相無明暗變化,如FeO屬于此類。2)各向異性的不透明夾雜物在直線偏振光下將使反射光的偏振面發生轉動,導致部分光線可透過正交的檢偏鏡。金相顯微鏡技術指導