中國計量學院朱若谷、浙江大學陳本永等提出了一種通過測量雙法布里一boluo干涉儀透射光強基波幅值差或基波等幅值過零時間間隔的方法進行納米測量的理論基礎,給出了檢測掃描探針振幅變化的新方法。中國科學院北京電子顯微鏡實驗室成功研制了一臺使用光學偏轉法檢測的原子力顯微鏡,通過對云母、光柵、光盤等樣品的觀測證明該儀器達到原子分辨率,較大掃描范圍可達7μm×7μm。浙江大學卓永模等研制成功雙焦干涉球面微觀輪廓儀,解決了對球形表面微觀輪廓進行亞納米級的非接觸精密測量問題,該系統具有0.1nm的縱向分辨率及小于2μm的橫向分辨率。利用納米力學測試,研究人員可揭示材料內部缺陷、應力分布等關鍵信息。廣州國產納米力學測試服務
納米壓痕技術,納米壓痕技術是一種直接測量材料硬度和彈性模量的方法。該方法通過在納米尺度下施加一個小的壓痕負荷,通過測量壓痕的深度和形狀來推算材料的力學性質。納米壓痕技術一般使用壓痕儀進行測試。在進行納米壓痕測試時,樣品通常需要進行前處理,例如制備平整的表面或進行退火處理。測試過程中,將頂端負載在材料表面上,并控制負載的大小和施加時間。然后,通過測量壓痕的深度和直徑來計算材料的硬度和彈性模量。納米壓痕技術普遍應用于納米硬度測試、薄膜力學性質研究等領域。廣州國產納米力學測試服務納米力學測試在材料設計和產品開發中發揮著重要作用,能夠提供關鍵的力學性能參數。
納米力學測試儀,納米力學測試儀是用于測量納米尺度下材料力學性質的專屬設備。納米力學測試儀可以進行納米級別的壓痕測試、拉伸測試和扭曲測試等。它通常配備有納米壓痕儀、納米拉曼光譜儀等附件,可以實現多種力學性質的測試。納米力學測試儀的使用需要在納米級別下進行精細調節,并確保測試精度和重復性。它普遍應用于納米材料的強度研究、納米薄膜的力學性質測試及納米器件的力學性能等方面。綜上所述,納米尺度下材料力學性質的測試方法多種多樣,每種方法都有其獨特的優勢和適用范圍。
經過三十年的發展,目前科學家在AFM 基礎上實現了多種測量和表征材料不同性能的應用模式。利用原子力顯微鏡,人們實現了對化學反應前后化學鍵變化的成像,研究了化學鍵的角對稱性質以及分子的側向剛度。Ternes 等測量了在材料表面移動單個原子所需要施加的作用力。各種不同的應用模式可以獲得被測樣品表面納米尺度力、熱、聲、電、磁等各個方面的性能。基于AFM 的定量化納米力學測試方法主要有力—距離曲線測試、掃描探針聲學顯微術和基于輕敲模式的動態多頻技術。納米力學測試可以應用于納米材料的質量控制和品質檢測,確保產品符合規定的力學性能要求。
特點:能同時實現SEM/FIB高分辨成像和納米力學性能測試,力學測量范圍0.5nN-200mN(9個數量級),位移測量范圍0.05nm-21mm(9個數量級),五軸(X,Y,Z,旋轉,傾斜)閉環控制保證樣品和微力傳感探針的精確對準,能在SEM/FIB較佳工作距離下實現高分辨成像(可達4mm)以及FIB切割和沉積,五軸(X,Y,Z,旋轉,傾斜)位移記錄器實現樣品臺上多樣品的自動測試和掃描,導電的微力傳感探針可有效減少荷電效應,能夠通過力和位移兩種控制模式實現各種力學測試,例如拉伸、壓縮、彎曲、剪切、循環和斷裂測試等,電性能測試模塊能夠實現力學和電學性能同步測試(樣品座配備6個電極)導電的微力傳感探針可有效減少荷電效應,實現力學性能測試與其他SEM/FIB原位分析手段聯用,如EDX、EBSD、離子束沉積和切割,兼容于SEM本身的樣品臺,安裝和卸載快捷方便。納米力學測試是一種用于研究納米尺度材料力學性質的實驗方法。廣州國產納米力學測試服務
借助納米力學測試,可以評估材料在微觀尺度下的耐磨性和耐蝕性。廣州國產納米力學測試服務
微納米材料研究中用到的一些現代測試技術:電子顯微法,電子顯微技術是以電子顯微鏡為研究手段來分析材料的一種技術。電子顯微鏡擁有高于光學顯微鏡的分辨率,可以放大幾十倍到幾十萬倍的范圍,在實驗研究中具有不可替代的意義,推動了眾多領域研究的進程。電子顯微技術的光源為電子束,通過磁場聚焦成像或者靜電場的分析技術才達成高分辨率的效果、利用電子顯微鏡可以得到聚焦清晰的圖像, 有利于研究人員對于實驗結果進行觀察分析。廣州國產納米力學測試服務
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