深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-05-01

在 LTOL（低溫操作壽命測(cè)試）中，欣同達(dá)老煉座展現(xiàn)出優(yōu)異性能。低溫環(huán)境對(duì)電子元器件是極大考驗(yàn)，傳統(tǒng)插座在低溫下易因材料脆化導(dǎo)致接觸不良。欣同達(dá)老煉座使用特殊合金材料，這種材料具備抵御低溫脆化的特性，可確保在低溫環(huán)境中保持良好接觸性能。例如在零下幾十?dāng)z氏度的 LTOL 測(cè)試環(huán)境下，對(duì)某款要求低溫性能的芯片進(jìn)行測(cè)試，使用欣同達(dá)老煉座，整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，芯片與測(cè)試設(shè)備之間的連接穩(wěn)定，未出現(xiàn)因插座問(wèn)題導(dǎo)致的測(cè)試中斷或數(shù)據(jù)偏差。其設(shè)計(jì)充分考慮低溫環(huán)境對(duì)材料和結(jié)構(gòu)的影響，從插座內(nèi)部接觸彈片到外部外殼材質(zhì)，都經(jīng)過(guò)精心篩選和優(yōu)化，有效減少因接觸不良導(dǎo)致的測(cè)試誤差，為芯片在低溫條件下的可靠性和性能評(píng)估提供有力保障 。?

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