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USB信號(hào)完整性測(cè)試 USB3.0和USB2.0相比有著非常本質(zhì)的區(qū)別，USB3.0有兩對(duì)高速差分線分別進(jìn)行信號(hào)的發(fā)送和接收，為全雙工工作模式，且使用了多種高速處理技術(shù)，如均衡、預(yù)加重等，對(duì)...

DDR數(shù)據(jù)總線的一致性測(cè)試 DQS (源同步時(shí)鐘)和DQ (數(shù)據(jù))的波形參數(shù)測(cè)試與命令地址總線測(cè)試類似，比較簡 單，在此不做詳細(xì)介紹。對(duì)于DDR1, DQS是單端信號(hào)，可以用單端探頭測(cè)試；D...

（1）電源完整性技術(shù)信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生波形完好的信號(hào)，信號(hào)接收器接收信號(hào)并正確解碼，都要具備一個(gè)必要條件：信號(hào)發(fā)生器電路和信號(hào)接收器電路的各電源供電正常，電路所需的各種電源電壓穩(wěn)定、功率充足。這就是電...

測(cè)試速率和碼型自動(dòng)切換以前測(cè)試需要手動(dòng)更改分辨率，才能實(shí)現(xiàn)測(cè)試信號(hào)速率的變更。現(xiàn)在通過測(cè)試軟件與EDID/SCDC模擬器的配合，在SCDC（Status and Control Data Chan...

DDR測(cè)試 DDR5的接收端容限測(cè)試 前面我們?cè)诮榻BUSB3.0、PCIe等高速串行總線的測(cè)試時(shí)提到過很多高速的串行總線由于接收端放置有均衡器，因此需要進(jìn)行接收容限的測(cè)試以驗(yàn)證接收均衡...

5，MIPI應(yīng)用的物理層標(biāo)準(zhǔn)是D-PHY MIPIDPHY有兩種工作模式：HS和LP HS：采用低壓差分信號(hào)，為高速模式，傳送速率80M-1Gbps LP：單端信號(hào)，為低功耗模式...

當(dāng)今居于主導(dǎo)地位的局域網(wǎng)技術(shù)－以太網(wǎng)。以太網(wǎng)是建立在CSMA/CD機(jī)制上的廣播型網(wǎng)絡(luò)。沖出的產(chǎn)生是限制以太網(wǎng)性能的重要因素，早期的以太網(wǎng)設(shè)備如集線器是物理層設(shè)備，不能隔絕沖出擴(kuò)散，限制了網(wǎng)絡(luò)性能的提高...

2.測(cè)試環(huán)境 測(cè)試環(huán)境包括測(cè)試設(shè)備、測(cè)試程序和測(cè)試環(huán)境等因素，如計(jì)算機(jī)、測(cè)試儀器、測(cè)試夾具、故障診斷工具等，以及測(cè)試室的溫濕度、電磁輻射等特殊要求。測(cè)試環(huán)境的保護(hù)和安排有助于提高測(cè)試的可靠性...

3. 電氣測(cè)試：電氣測(cè)試用于測(cè)量電路板上各個(gè)部分的電氣參數(shù)，如電壓、電流、功率等，檢查電路板各部分的電性能是否達(dá)標(biāo)。電氣測(cè)試需使用電源、萬用表、示波器等儀器. 4.信號(hào)測(cè)試：信號(hào)測(cè)試是用于保...

電路板測(cè)試（CircuitBoardTesting）是電子制造中一個(gè)非常關(guān)鍵的步驟，它確保電路板的正確性和可靠性。不同類型的電路板測(cè)試依據(jù)不同的應(yīng)用目的和測(cè)試方法而實(shí)現(xiàn)。以下是幾種常見類型的電路板...

電子產(chǎn)品測(cè)試是保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段，通過對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)和特性進(jìn)行測(cè)量、分析和評(píng)估，以判斷產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范。本文將介紹電子產(chǎn)品測(cè)試中的基礎(chǔ)概念。 一、測(cè)試對(duì)象 ...

由于讀/寫時(shí)序不一樣造成的另一個(gè)問題是眼圖的測(cè)量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進(jìn)行眼圖測(cè)試，但是很多時(shí)候眼圖測(cè)試是一種快速、直觀衡量信號(hào)質(zhì)量的方法，所以 許多用戶希望通過眼圖來評(píng)估信號(hào)質(zhì)量。而對(duì)...