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c)EqualizationCalibration針對(duì)無源電纜的應(yīng)用場(chǎng)景，USB的發(fā)送端測(cè)試點(diǎn)在TP3。示波器在進(jìn)行信號(hào)質(zhì)量分析前，需要模擬真實(shí)device，引入一個(gè)參考均衡算法，減輕有損電纜對(duì)信...

我們現(xiàn)在看一個(gè)具體示例:圖3中，兩款示波器都已設(shè)置為800mV全屏顯示。8位ADC示波器的分辨率是3.125mV，即，800mV除以28(256個(gè)量化電平)。10位ADC示波器的分辨率是0.781mV...

一種ddr4內(nèi)存信號(hào)測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)技術(shù)領(lǐng)域1.本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指一種ddr4內(nèi)存信號(hào)測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù)：2.為保證服務(wù)器的平穩(wěn)運(yùn)行以及服務(wù)器ddr4內(nèi)存的...

頻率響應(yīng)每個(gè)示波器型號(hào)都有自己的頻率響應(yīng)曲線，它是用來衡量示波器在額定帶寬內(nèi)采集信號(hào)準(zhǔn)確性的重要參數(shù)。精確采集波形必須滿足三個(gè)條件。示波器的頻響曲線必須平坦。示波器的相位響應(yīng)曲線必須平坦。被測(cè)信號(hào)的關(guān)...

DDR測(cè)試DDR/LPDDR簡介目前在計(jì)算機(jī)主板和各種嵌入式的應(yīng)用中，存儲(chǔ)器是必不可少的。常用的存儲(chǔ)器有兩種：一種是非易失性的，即掉電不會(huì)丟失數(shù)據(jù)，常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-On...

DDR測(cè)試 DDR4/5與LPDDR4/5的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試由于基于DDR顆粒或DDRDIMM的系統(tǒng)需要適配不同的平臺(tái)，應(yīng)用場(chǎng)景千差萬別，因此需要進(jìn)行詳盡的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試才能保證系統(tǒng)的可靠工作。對(duì)...

DDR測(cè)試 DDR總線上需要測(cè)試的參數(shù)高達(dá)上百個(gè)，而且還需要根據(jù)信號(hào)斜率進(jìn)行復(fù)雜的查表修正。為了提高DDR信號(hào)質(zhì)量測(cè)試的效率，比較好使用的測(cè)試軟件進(jìn)行測(cè)試。使用自動(dòng)測(cè)試軟件的優(yōu)點(diǎn)是：自動(dòng)化的...

DDR測(cè)試 在進(jìn)行接收容限測(cè)試時(shí)，需要用到多通道的誤碼儀產(chǎn)生帶壓力的DQ、DQS等信號(hào)。測(cè)試中被測(cè)件工作在環(huán)回模式，DQ引腳接收的數(shù)據(jù)經(jīng)被測(cè)件轉(zhuǎn)發(fā)并通過LBD引腳輸出到誤碼儀的誤碼檢測(cè)端口。...

c)EqualizationCalibration針對(duì)無源電纜的應(yīng)用場(chǎng)景，USB的發(fā)送端測(cè)試點(diǎn)在TP3。示波器在進(jìn)行信號(hào)質(zhì)量分析前，需要模擬真實(shí)device，引入一個(gè)參考均衡算法，減輕有損電纜對(duì)信...

測(cè)試系統(tǒng)搭建和介紹任何測(cè)試系統(tǒng)的搭建都是以測(cè)試目的為導(dǎo)向的，在測(cè)試之前一定要明確測(cè)試目的。對(duì)于完整的USB2.0信號(hào)完整性測(cè)試，需要對(duì)TX端和RX端都進(jìn)行完整的測(cè)試，但是對(duì)于大多數(shù)廠商來講，可能只...

3、信號(hào)完整性的設(shè)計(jì)方法（步驟）掌握信號(hào)完整性問題的相關(guān)知識(shí)；系統(tǒng)設(shè)計(jì)階段采用規(guī)避信號(hào)完整性風(fēng)險(xiǎn)的設(shè)計(jì)方案，搭建穩(wěn)健的系統(tǒng)框架；對(duì)目標(biāo)電路板上的信號(hào)進(jìn)行分類，識(shí)別潛在的SI風(fēng)險(xiǎn)，確定SI設(shè)計(jì)的總體...

在進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試時(shí)，需要注意以下幾個(gè)方面： 1.測(cè)試環(huán)境：測(cè)試環(huán)境是指進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試時(shí)所處的環(huán)境條件，包括溫度、濕度、電磁場(chǎng)等因素。測(cè)試環(huán)境的穩(wěn)定性和一致性對(duì)測(cè)試結(jié)果影響較大，需要控制溫...