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浙江DDR測試維修

來源: 發布時間:2025年03月08日

DDR測試

DDR總線上需要測試的參數高達上百個,而且還需要根據信號斜率進行復雜的查表修正。為了提高DDR信號質量測試的效率,比較好使用的測試軟件進行測試。使用自動測試軟件的優點是:自動化的設置向導避免連接和設置錯誤;優化的算法可以減少測試時間;可以測試JEDEC規定的速率,也可以測試用戶自定義的數據速率;自動讀/寫分離技術簡化了測試操作;能夠多次測量并給出一個統計的結果;能夠根據信號斜率自動計算建立/保持時間的修正值。由于DDR5工作時鐘比較高到3.2GHz,系統裕量很小,因此信號的隨機和確定性抖動對于數據的正確傳輸至關重要,需要考慮熱噪聲引入的RJ、電源噪聲引入的PJ、傳輸通道損耗帶來的DJ等影響。DDR5的測試項目比DDR4也更加復雜。比如其新增了nUI抖動測試項目,并且需要像很多高速串行總線一樣對抖動進行分解并評估RJ、DJ等不同分量的影響。另外,由于高速的DDR5芯片內部都有均衡器芯片,因此實際進行信號波形測試時也需要考慮模擬均衡器對信號的影響。展示了典型的DDR5和LPDDR5測試軟件的使用界面和一部分測試結果。 DDR3規范里關于信號建立保持是的定義;浙江DDR測試維修

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現做一個測試電路,類似于圖5,驅動源是一個線性的60Ohms阻抗輸出的梯形信號,信號的上升沿和下降沿均為100ps,幅值為1V。此信號源按照圖6的三種方式,且其端接一60Ohms的負載,其激勵為一800MHz的周期信號。在0.5V這一點,我們觀察從信號源到接收端之間的時間延遲,顯示出來它們之間的時延差異。其結果如圖7所示,在圖中只顯示了信號的上升沿,從這圖中可以很明顯的看出,帶有四個地過孔環繞的過孔時延同直線相比只有3ps,而在沒有地過孔環繞的情況下,其時延是8ps。由此可知,在信號過孔的周圍增加地過孔的密度是有幫助的。然而,在4層板的PCB里,這個就顯得不是完全的可行性,由于其信號線是靠近電源平面的,這就使得信號的返回路徑是由它們之間的耦合程度來決定的。所以,在4層的PCB設計時,為符合電源完整性(powerintegrity)要求,對其耦合程度的控制是相當重要的。浙江DDR測試維修DDR4物理層一致性測試;

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DDR4/5的協議測試除了信號質量測試以外,有些用戶還會關心DDR總線上真實讀/寫的數據是否正確,以及總線上是否有協議的違規等,這時就需要進行相關的協議測試。DDR的總線寬度很寬,即使數據線只有16位,加上地址、時鐘、控制信號等也有30多根線,更寬位數的總線甚至會用到上百根線。為了能夠對這么多根線上的數據進行同時捕獲并進行協議分析,適合的工具就是邏輯分析儀。DDR協議測試的基本方法是通過相應的探頭把被測信號引到邏輯分析儀,在邏輯分析儀中運行解碼軟件進行協議驗證和分析。

實際的電源完整性是相當復雜的,其中要考慮到IC的封裝、仿真信號的切換頻率和PCB耗電網絡。對于PCB設計來說,目標阻抗的去耦設計是相對來說比較簡單的,也是比較實際的解決方案。在DDR的設計上有三類電源,它們是VDD、VTT和Vref。VDD的容差要求是5%,而其瞬間電流從Idd2到Idd7大小不同,詳細在JEDEC里有敘述。通過電源層的平面電容和用的一定數量的去耦電容,可以做到電源完整性,其中去耦電容從10nF到10uF大小不同,共有10個左右。另外,表貼電容合適,它具有更小的焊接阻抗。Vref要求更加嚴格的容差性,但是它承載著比較小的電流。顯然,它只需要很窄的走線,且通過一兩個去耦電容就可以達到目標阻抗的要求。由于Vref相當重要,所以去耦電容的擺放盡量靠近器件的管腳。然而,對VTT的布線是具有相當大的挑戰性,因為它不只要有嚴格的容差性,而且還有很大的瞬間電流,不過此電流的大小可以很容易的就計算出來。終,可以通過增加去耦電容來實現它的目標阻抗匹配。在4層板的PCB里,層之間的間距比較大,從而失去其電源層間的電容優勢,所以,去耦電容的數量將增加,尤其是小于10nF的高頻電容。詳細的計算和仿真可以通過EDA工具來實現。一種DDR4內存信號測試方法;

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trombone線的時延是受到其并行走線之間的耦合而影響,一種在不需要提高其間距的情況下,并且能降低耦合的程度的方法是采用sawtooth線。顯然,sawtooth線比trombone線具有更好的效果。但是,依來看它需要更多的空間。由于各種可能造成時延不同的原因,所以,在實際的設計時,要借助于CAD工具進行嚴格的計算,從而控制走線的時延匹配。考慮到在圖2中6層板上的過孔的因素,當一個地過孔靠近信號過孔放置時,則在時延方面的影響是必須要考慮的。先舉個例子,在TOP層的微帶線長度是150mils,BOTTOM層的微帶線也是150mils,線寬都為4mils,且過孔的參數為:barreldiameter=”8mils”,paddiameter=”18mils”,anti-paddiameter=”26mils”。DDR存儲器信號和協議測試;上海DDR測試檢修

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DDR5發送端測試隨著信號速率的提升,SerDes技術開始在DDR5中采用,如會采用DFE均衡器改善接收誤碼率,另外DDR總線在發展過程中引入訓練機制,不再是簡單的要求信號間的建立保持時間,在DDR4的時始使用眼圖的概念,在DDR5時代,引入抖動成分概念,從成因上區分解Rj,Dj等,對芯片或系統設計提供更具體的依據;在抖動的參數分析上,也增加了一些新的抖動定義參數,并有嚴苛的測量指標。針對這些要求,提供了完整的解決方案。UXR示波器,配合D9050DDRC發射機一致性軟件,及高阻RC探頭MX0023A,及Interposer,可以實現對DDR信號的精確表征。浙江DDR測試維修

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