DDR測試
什么是DDR?
DDR是雙倍數據速率(DoubleDataRate)。DDR與普通同步動態隨機內存(DRAM)非常相象。普通同步DRAM(現在被稱為SDR)與標準DRAM有所不同。標準的DRAM接收的地址命令由二個地址字組成。為節省輸入管腳,采用了復用方式。地址字由行地址選通(RAS)鎖存在DRAM芯片。緊隨RAS命令之后,列地址選通(CAS)鎖存第二地址字。經過RAS和CAS,存儲的數據可以被讀取。同步動態隨機內存(SDRDRAM)將時鐘與標準DRAM結合,RAS、CAS、數據有效均在時鐘脈沖的上升邊沿被啟動。根據時鐘指示,可以預測數據和其它信號的位置。因而,數據鎖存選通可以精確定位。由于數據有效窗口的可預計性,所以可將內存劃分成4個組進行內部單元的預充電和預獲取。通過突發模式,可進行連續地址獲取而不必重復RAS選通。連續CAS選通可對來自相同行的數據進行讀取。 什麼是DDR內存?如何測試?測試服務DDR測試保養
DDR測試
測試軟件運行后,示波器會自動設置時基、垂直增益、觸發等參數進行測量并匯總成一個測試報告,測試報告中列出了測試的項目、是否通過、spec的要求、實測值、margin等。圖5.17是自動測試軟件進行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子。信號質量的測試還可以輔助用戶進行內存參數的配置,比如高速的DDR芯片都提供有ODT(OnDieTermination)的功能,用戶可以通過軟件配置改變內存芯片中的匹配電阻,并分析對信號質量的影響。除了一致性測試以外,DDR測試軟件還可以支持調試功能。比如在某個關鍵參數測試失敗后,可以針對這個參數進行Debug。此時,測試軟件會捕獲、存儲一段時間的波形并進行參數統計,根據統計結果可以查找到參數違規時對應的波形位置, 智能化多端口矩陣測試DDR測試眼圖測試DDR3信號質量自動測試軟件;
DDR測試
DDR的信號仿真驗證由于DDR芯片都是采用BGA封裝,密度很高,且分叉、反射非常嚴重,因此前期的仿真是非常必要的。是借助仿真軟件中專門針對DDR的仿真模型庫仿真出的通道損耗以及信號波形。仿真出信號波形以后,許多用戶需要快速驗證仿真出來的波形是否符合DDR相關規范要求。這時,可以把軟件仿真出的DDR的時域波形導入到示波器中的DDR測試軟件中,并生成相應的一致性測試報告,這樣可以保證仿真和測試分析方法的一致,并且便于在仿真階段就發現可能的信號違規。
4)將Vref的去耦電容靠近Vref管腳擺放;Vtt的去耦電容擺放在遠的一個SDRAM外端;VDD的去耦電容需要靠近器件擺放。小電容值的去耦電容需要更靠近器件擺放。正確的去耦設計中,并不是所有的去耦電容都是靠近器件擺放的。所有的去耦電容的管腳都需要扇出后走線,這樣可以減少阻抗,通常,兩端段的扇出走線會垂直于電容布線。5)當切換平面層時,盡量做到長度匹配和加入一些地過孔,這些事先應該在EDA工具里進行很好的仿真。通常,在時域分析來看,差分線的正負兩根線要做到延時匹配,保證其誤差在+/-2ps,而其它的信號要做到+/-10ps。借助協議解碼軟件看DDR的會出現數據有那些;
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DDR內存的典型使用方式有兩種:一種是在嵌入式系統中直接使用DDR顆粒,另一種是做成DIMM條(DualIn-lineMemoryModule,雙列直插內存模塊,主要用于服務器和PC)或SO-DIMM(SmallOutlineDIMM,小尺寸雙列直插內存,主要用于筆記本)的形式插在主板上使用。在服務器領域,使用的內存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內存)沒有額外驅動電路,延時較小,但數據從CPU傳到每個內存顆粒時,UDIMM需要保證CPU到每個內存顆粒之間的傳輸距離相等,設計難度較大,因此UDIMM在容量和頻率上都較低,通常應用在性能/容量要求不高的場合。 DDR信號的眼圖模板要求那些定義;測試服務DDR測試保養
DDR3關于信號建立保持是的定義;測試服務DDR測試保養
trombone線的時延是受到其并行走線之間的耦合而影響,一種在不需要提高其間距的情況下,并且能降低耦合的程度的方法是采用sawtooth線。顯然,sawtooth線比trombone線具有更好的效果。但是,依來看它需要更多的空間。由于各種可能造成時延不同的原因,所以,在實際的設計時,要借助于CAD工具進行嚴格的計算,從而控制走線的時延匹配。考慮到在圖2中6層板上的過孔的因素,當一個地過孔靠近信號過孔放置時,則在時延方面的影響是必須要考慮的。先舉個例子,在TOP層的微帶線長度是150mils,BOTTOM層的微帶線也是150mils,線寬都為4mils,且過孔的參數為:barreldiameter=”8mils”,paddiameter=”18mils”,anti-paddiameter=”26mils”。測試服務DDR測試保養