3.互聯拓撲對于DDR2和DDR3,其中信號DQ、DM和DQS都是點對點的互聯方式,所以不需要任何的拓撲結構,然而例外的是,在multi-rankDIMMs(DualInLineMemoryModules)的設計中并不是這樣的。在點對點的方式時,可以很容易的通過ODT的阻抗設置來做到阻抗匹配,從而實現其波形完整性。而對于ADDR/CMD/CNTRL和一些時鐘信號,它們都是需要多點互聯的,所以需要選擇一個合適的拓撲結構,圖2列出了一些相關的拓撲結構,其中Fly-By拓撲結構是一種特殊的菊花鏈,它不需要很長的連線,甚至有時不需要短線(Stub)。對于DDR3,這些所有的拓撲結構都是適用的,然而前提條件是走線要盡可能的短。Fly-By拓撲結構在處理噪聲方面,具有很好的波形完整性,然而在一個4層板上很難實現,需要6層板以上,而菊花鏈式拓撲結構在一個4層板上是容易實現的。另外,樹形拓撲結構要求AB的長度和AC的長度非常接近(如圖2)。考慮到波形的完整性,以及盡可能的提高分支的走線長度,同時又要滿足板層的約束要求,在基于4層板的DDR3設計中,合理的拓撲結構就是帶有少短線(Stub)的菊花鏈式拓撲結構。DDR壓力測試的內容有那些;測試服務DDR測試檢查
DDR測試
DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的,但是通常DDR芯片采用BGA封裝,引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉接板的方式,其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳處的信號質量,一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進行軟件的去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數模型文件(通常通過仿真或者實測得到),并根據實際測試點和期望觀察到的點之間的傳輸函數,來計算期望位置處的信號波形,再對這個信號做進一步的波形參數測量和統計。圖5.15展示了典型的DDR4和DDR5信號質量測試環境,以及在示波器中進行去嵌入操作的界面。 USB測試DDR測試安裝DDR2總線上的信號波形;
這里有三種方案進行對比考慮:一種是,通過過孔互聯的這個過孔附近沒有任何地過孔,那么,其返回路徑只能通過離此過孔250mils的PCB邊緣來提供;第二種是,一根長達362mils的微帶線;第三種是,在一個信號線的四周有四個地過孔環繞著。圖6顯示了帶有60Ohm的常規線的S-Parameters,從圖中可以看出,帶有四個地過孔環繞的信號過孔的S-Parameters就像一根連續的微帶線,從而提高了S21特性。
由此可知,在信號過孔附近缺少返回路徑的情況下,則此信號過孔會增高其阻抗。當今的高速系統里,在時延方面顯得尤為重要。
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DDR5的接收端容限測試
前面我們在介紹USB3.0、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線由于接收端放置有均衡器,因此需要進行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣信號下的表現。對于DDR來說,DDR4及之前的總線接收端還相對比較簡單,只是做一些匹配、時延、閾值的調整。但到了DDR5時代(圖5.19),由于信號速率更高,因此接收端也開始采用很多高速串行總線中使用的可變增益調整以及均衡器技術,這也使得DDR5測試中必須關注接收均衡器的影響,這是之前的DDR測試中不曾涉及的。 DDR4信號質量自動測試軟件;
DDR5具備如下幾個特點:·更高的數據速率·DDR5比較大數據速率為6400MT/s(百萬次/秒),而DDR4為3200MT/s,DDR5的有效帶寬約為DDR4的2倍。·更低的能耗·DDR5的工作電壓為1.1V,低于DDR4的1.2V,能降低單位頻寬的功耗達20%以上·更高的密度·DDR5將突發長度增加到BL16,約為DDR4的兩倍,提高了命令/地址和數據總線效率。相同的讀取或寫入事務現在提供數據總線上兩倍的數據,同時限制同一存儲庫內輸入輸出/陣列計時約束的風險。此外,DDR5使存儲組數量翻倍,這是通過在任意給定時間打開更多頁面來提高整體系統效率的關鍵因素。所有這些因素都意味著更快、更高效的內存以滿足下一代計算的需求。DDR測試技術介紹與工具分析;測試服務DDR測試檢查
DDR規范里關于信號建立;測試服務DDR測試檢查
14.在本發明的一個實施例中,所述相關信號包括dqs信號、clk信號和dq信號,所述標志信號為dqs信號。15.在本發明的一個實施例中,所述根據標志信號對示波器進行相關參數配置,具體包括:16.利用示波器分別采集標志信號在數據讀取和數據寫入過程中的電平幅值;17.對標志信號在數據讀取和數據寫入過程中的電平幅值進行比較,確定標志信號的電平閾值;18.在示波器中配置標志信號的電平閾值。19.在本發明的一個實施例中,所述利用示波器的觸發功能將ddr4內存的讀寫信號進行信號分離,具體包括:20.將標志信號的實時電平幅值與標志信號的電平閾值進行比較;21.將大于電平閾值的標志信號和小于電平閾值的標志信號分別進行信號的分離,得到數據讀取和數據寫入過程中的標志信號。測試服務DDR測試檢查