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廣東PCI-E測試系列

來源: 發(fā)布時間:2024年02月01日

·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為。·PlatformBIOSTesting(平臺BIOS測試):用于檢查主板BIOS識別和配置PCIe外設(shè)的能力。對于PCIe4.0來說,針對之前發(fā)現(xiàn)的問題以及新增的特性,替換或增加了以下測試項目·InteroperabilityTesting(互操作性測試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測試)。·LaneMargining(鏈路裕量測試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中,針對電氣特性測試,又有專門的物理層測試規(guī)范,用于規(guī)定具體的測試項目和測試方法。表4.2是針對PCIe4.0的主板或插卡需要進行的物理層測試項目,其中灰色背景的測試項目都涉及鏈路協(xié)商功能。pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里?廣東PCI-E測試系列

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在測試通道數(shù)方面,傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法,即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道,所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接,但是由于會引入額外的噪聲,所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中,對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法,即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試,這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質(zhì)量測試組網(wǎng)圖,芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG廣東PCI-E測試系列3090Ti 始發(fā)支持 PCIe5.0 顯卡供電接口怎么樣?

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克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標。克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室重心團隊成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術(shù)人員,嚴格按照行業(yè)測試規(guī)范,配備高性能的權(quán)能測試設(shè)備,提供給客戶更精細更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)。克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認證測試、預(yù)認證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試,PCI-E測試等方面測試服務(wù)。

需要注意的是,每一代CBB和CLB的設(shè)計都不太一樣,特別是CBB的 變化比較大,所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件,主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中,CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準; CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準;可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的,無論是哪種測試,ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中,要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響,用于模擬實際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。PCI-E測試信號質(zhì)量測試;

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PCIe4.0標準在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外,還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式,以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下,主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差,同時由于有一部分數(shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消,所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些被測件發(fā)不出標準的PCI-E的一致性測試碼型,為什么?廣東PCI-E測試系列

PCI-e體系的拓撲結(jié)構(gòu);廣東PCI-E測試系列

如前所述,在PCle4.0的主板和插卡測試中,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測 試夾具進行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測試通道,而對端接收芯片封裝對信號的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進行模擬的。測試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測試軟件把這個S參數(shù)文件的影響加到被測波形上。

PCIe4.0信號質(zhì)量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動分析,另一種是使用示波器廠商提供的軟件進行自動測試。 廣東PCI-E測試系列

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