SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供，會對信號進行時鐘恢復、均衡以及眼圖、抖 動的分析。由于PCIe4.0的接收機支持多個不同幅度的CTLE均衡，而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整，所以SigTest軟件會遍歷所有的CTLE值并進行DFE的優(yōu)化，并 根據(jù)眼高、眼寬的結果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號質(zhì)量測試 結果。SigTest需要用戶手動設置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進行后分析，測試效率 比較低，而且對于不熟練的測試人員還可能由于設置疏忽造成測試結果的不一致，測試項目 也主要限于信號質(zhì)量與Preset相關的項目。為了提高PCIe測試的效率和測試項目覆蓋 率，有些示波器廠商提供了相應的自動化測試軟件。pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里？陜西PCI-E測試USB測試

PCIe4.0的測試項目PCIe相關設備的測試項目主要參考PCI-SIG發(fā)布的ComplianceTestGuide(一致性測試指南)。在PCIe3.0的測試指南中，規(guī)定需要進行的測試項目及其目的如下(參考資料：PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測試):用于檢查主板以及插卡發(fā)射機和接收機的電氣性能?！onfigurationTesting(配置測試):用于檢查PCIe設備的配置空間。·LinkProtocolTesting(鏈路協(xié)議測試):用于檢查設備的鏈路層協(xié)議行為。天津PCI-E測試市場價PCIe如何解決PCI體系結構存在的問題的呢？

當被測件進入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號后，被測件應該會把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過比較誤碼來判斷數(shù)據(jù)是否被  正確接收，測試通過的標準是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進  行PCIe4.0的插卡接收的實際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時鐘恢復電路、預加重模塊、 參考時鐘倍頻、信號均衡電路等，非常適合速率高、要求復雜的場合。在接收端容限測試中， 可調(diào)ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長的時  間進行Stress Eye的計算和鏈路調(diào)整，甚至無法完成校準和測試。 一般建議事先用VNA  標定和選擇好鏈路，這樣校準過程會快很多，測試結果也會更加準確。所以，在PCIe4.0的  測試中，無論是發(fā)送端測試還是接收端測試，都比較好有矢量網(wǎng)絡分析儀配合進行ISI通道  選擇。

相應地，在CC模式下參考時鐘的 抖動測試中，也會要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時鐘，可以為一些特殊的不太方便進行參考 時鐘傳遞的應用場景(比如通過Cable連接時)提供便利，但由于收發(fā)端參考時鐘不同源，所 以對于收發(fā)端的設計難度要大一些(比如Buffer深度以及時鐘頻差調(diào)整機制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時鐘以及PLL的抖動之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機 抖動指標即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時鐘時的時鐘架構，以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動的要求。PCI-E的信號測試中否一定要使用一致性測試碼型？

這個軟件以圖形化的界面指導用戶完 成設置、連接和測試過程，除了可以自動進行示波器測量參數(shù)設置以及生成報告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項目，提高了測試的效率和覆蓋率。自動測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動測試軟件的設置界面。

主板和插卡的測試項目針對的是系統(tǒng)設備廠商，需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對于設計PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設計針對芯片的測試板。16是一個典型的PCIe 芯片的測試板，測試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測信號引出并轉換成 同軸接口直接連接測試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸，對于16Gbps信號的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測試中可以對扇出通道的影響進行評估或者去嵌入，測試板上還應 設計和扇出通道疊層設計、布線方式盡量一致的復制通道(Replica Channel),復制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設計成同軸連接方式，這樣可以通過對復制通道直接進行測試 推測扇出通道的特性。 PCIE 5.0，速率翻倍vs性能優(yōu)化；天津PCI-E測試市場價

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雖然在編碼方式和芯片內(nèi)部做了很多工作，但是傳輸鏈路的損耗仍然是巨大的挑戰(zhàn)，特 別是當采用比較便宜的PCB板材時，就不得不適當減少傳輸距離和鏈路上的連接器數(shù)量。 在PCIe3.0的8Gbps速率下，還有可能用比較便宜的FR4板材在大約20英寸的傳輸距離 加2個連接器實現(xiàn)可靠信號傳輸。在PCle4.0的16Gbps速率下，整個16Gbps鏈路的損耗 需要控制在-28dB @8GHz以內(nèi)，其中主板上芯片封裝、PCB/過孔走線、連接器的損耗總 預算為-20dB@8GHz,而插卡上芯片封裝、PCB/過孔走線的損耗總預算為-8dB@8GHz。

整個鏈路的長度需要控制在12英寸以內(nèi)，并且鏈路上只能有一個連接器。如果需要支持更 長的傳輸距離或者鏈路上有更多的連接器，則需要在鏈路中插入Re-timer芯片對信號進行 重新整形和中繼。圖4.6展示了典型的PCle4.0的鏈路模型以及鏈路損耗的預算，圖中各 個部分的鏈路預算對于設計和測試都非常重要，對于測試部分的影響后面會具體介紹。 陜西PCI-E測試USB測試