(9)PCle4.0上電階段的鏈路協商過程會先協商到8Gbps,成功后再協商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統的收發端共參考時鐘模式，還提供了收發端采用參考時鐘模式的支持。通過各種信號處理技術的結合，PCIe組織總算實現了在兼容現有的FR-4板材和接插  件的基礎上，每一代更新都提供比前代高一倍的有效數據傳輸速率。但同時收/發芯片會變  得更加復雜，系統設計的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性， 就成為設計和測試人員面臨的嚴峻挑戰。pcie接口定義及知識解析；浙江PCI-E測試DDR測試

·項目2.6Add-inCardLaneMarginingat16GT/s:驗證插卡能通過LaneMargining功能反映接收到的信號質量，針對16Gbps速率。·項目2.7SystemBoardTransmitterSignalQuality:驗證主板發送信號質量，針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率。·項目2.8SystemBoardTransmitterPresetTest:驗證插卡發送信號的Preset值是否正確，針對8Gbps和16Gbps速率。·項目2.9SystemBoardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗證插卡對于鏈路協商的響應時間，針對8Gbps和16Gbps速率。·項目2.10SystemLaneMarginingat16GT/s:驗證主板能通過LaneMargining功能反映接收到的信號質量，針對16Gbps速率。·項目2.11AddinCardReceiverLinkEqualizationTest:驗證插卡在壓力信號下的接收機性能及誤碼率，要求可以和對端進行鏈路協商并相應調整對端的預加重，針對8Gbps和16Gbps速率。浙江PCI-E測試DDR測試如何區分pci和pci-e(如何區分pci和pcie) ？

為了克服大的通道損耗，PCle5.0接收端的均衡能力也會更強一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個極點和2個零點，其直流增益可以在-5～ - 15dB之間以1dB的分辨率進行調整，以精確補償通道損耗的  影響。同時，為了更好地補償信號反射、串擾的影響，其接收端的DFE均衡器也使用了更復 雜的3-Tap均衡器。對于發射端來說，PCle5.0相對于PCIe4.0和PCIe3.0來說變化不大， 仍然是3階的FIR預加重以及11種預設好的Preset組合。

PCIe4.0的測試夾具和測試碼型要進行PCIe的主板或者插卡信號的一致性測試(即信號電氣質量測試),首先需要使用PCIe協會提供的夾具把被測信號引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售，主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對于發送端信號質量測試來說，CBB用于插卡的測試，CLB用于主板的測試；但是在接收容限測試中，由于需要把誤碼儀輸出的信號通過夾具連接示波器做校準，所以無論是主板還是插卡的測試，CBB和CLB都需要用到。PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區別是什么？

當被測件進入環回模式并且誤碼儀發出壓力眼圖的信號后，被測件應該會把其從RX 端收到的數據再通過TX端發送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過比較誤碼來判斷數據是否被  正確接收，測試通過的標準是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進  行PCIe4.0的插卡接收的實際環境。在這款誤碼儀中內置了時鐘恢復電路、預加重模塊、 參考時鐘倍頻、信號均衡電路等，非常適合速率高、要求復雜的場合。在接收端容限測試中， 可調ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長的時  間進行Stress Eye的計算和鏈路調整，甚至無法完成校準和測試。 一般建議事先用VNA  標定和選擇好鏈路，這樣校準過程會快很多，測試結果也會更加準確。所以，在PCIe4.0的  測試中，無論是發送端測試還是接收端測試，都比較好有矢量網絡分析儀配合進行ISI通道  選擇。PCI-E3.0設計還可以使用和PCI-E2.0一樣的PCB板材和連接器嗎？浙江PCI-E測試DDR測試

PCI-E 3.0測試接收端容限測試；浙江PCI-E測試DDR測試

在測試通道數方面，傳統上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現連接，但是由于會引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優點是可以比較方便地計算數據通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數據通道接入 示波器測試，這樣信號質量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質量測試組網圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG浙江PCI-E測試DDR測試