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多端口矩陣測試DDR3測試系列

來源: 發布時間:2025年05月25日


DDR 規范解讀

為了讀者能夠更好地理解 DDR 系統設計過程,以及將實際的設計需求和 DDR 規范中的主要性能指標相結合,我們以一個實際的設計分析實例來說明,如何在一個 DDR 系統設計中,解讀并使用 DDR 規范中的參數,應用到實際的系統設計中。是某項目中,對 DDR 系統的功能模塊細化框圖。在這個系統中,對 DDR 的設計需求如下。

DDR 模塊功能框圖· 整個 DDR 功能模塊由四個 512MB 的 DDR 芯片組成,選用 Micron 的 DDR 存儲芯片 MT46V64M8BN-75。每個 DDR 芯片是 8 位數據寬度,構成 32 位寬的 2GBDDR 存儲單元,地址空間為 Add<13..0>,分四個 Bank,尋址信號為 BA<1..0>。


DDR3一致性測試是否會導致操作系統或應用程序崩潰?多端口矩陣測試DDR3測試系列

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可以通過AllegroSigritySI仿真軟件來仿真CLK信號。

(1)產品選擇:從產品菜單中選擇AllegroSigritySI產品。

(2)在產品選擇界面選項中選擇AllegroSigritySI(forboard)。

(3)在AllegroSigritySI界面中打開DDR_文件。

(4)選擇菜單Setup-*Crosssection..,設置電路板層疊參數。

將DDRController和Memory器件的IBIS模型和文件放在當前DDR_文件的同一目錄下,這樣,工具會自動査找到目錄下的器件模型。 遼寧解決方案DDR3測試如何進行DDR3內存模塊的熱插拔一致性測試?

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瀏覽選擇控制器的IBIS模型,切換到Bus Definition選項卡,單擊Add按鈕添加一 組新的Buso選中新加的一行Bus使其高亮,將鼠標移動到Signal Names下方高亮處,單擊 出現的字母E,打開Signal列表。勾選組數據和DM信號,單擊0K按鈕確認。

同樣,在Timing Ref下方高亮處,單擊出現的字母E打開TimingRef列表。在這個列表 窗口左側,用鼠標左鍵點選DQS差分線的正端,用鼠標右鍵點選負端,單擊中間的“>>”按 鈕將選中信號加入TimingRefs,單擊OK按鈕確認。

很多其他工具都忽略選通Strobe信號和時鐘Clock信號之間的時序分析功能,而SystemSI可以分析包括Strobe和Clock在內的完整的各類信號間的時序關系。如果要仿真分析選通信號Strobe和時鐘信號Clock之間的時序關系,則可以設置與Strobe對應的時鐘信號。在Clock 下方的高亮處,單擊出現的字母E打開Clock列表。跟選擇與Strobe -樣的操作即可選定時 鐘信號。

容量與組織:DDR規范還涵蓋了內存模塊的容量和組織方式。DDR內存模塊的容量可以根據規范支持不同的大小,如1GB、2GB、4GB等。DDR內存模塊通常以多個內存芯片排列組成,其中每個內存芯片被稱為一個芯粒(die),多個芯粒可以組成密集的內存模塊。電氣特性:DDR規范還定義了內存模塊的電氣特性,包括供電電壓、電流消耗、輸入輸出電平等。這些電氣特性對于確保DDR內存模塊的正常工作和兼容性至關重要。兼容性:DDR規范還考慮了兼容性問題,確保DDR內存模塊能夠與兼容DDR接口的主板和控制器正常配合。例如,保留向后兼容性,允許支持DDR接口的控制器工作在較低速度的DDR模式下。DDR3一致性測試是否對不同廠商的內存模塊有效?

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多數電子產品,從智能手機、PC到服務器,都用著某種形式的RAM存儲設備。由于相 對較低的每比特的成本提供了速度和存儲很好的結合,SDRAM作為大多數基于計算機產品 的主流存儲器技術被廣泛應用于各種高速系統設計中。

DDR是雙倍數率的SDRAM內存接口,其規范于2000年由JEDEC (電子工程設計發展 聯合協會)發布。隨著時鐘速率和數據傳輸速率不斷增加帶來的性能提升,電子工程師在確 保系統性能指標,或確保系統內部存儲器及其控制設備的互操作性方面的挑戰越來越大。存 儲器子系統的信號完整性早已成為電子工程師重點考慮的棘手問題。 是否可以在已通過一致性測試的DDR3內存模塊之間混搭?PCI-E測試DDR3測試銷售電話

DDR3一致性測試是否包括高負載或長時間運行測試?多端口矩陣測試DDR3測試系列

使用了一個 DDR 的設計實例,來講解如何規劃并設計一個 DDR 存儲系統,包括從系統性能分析,資料準備和整理,仿真模型的驗證和使用,布局布線約束規則的生成和復用,一直到的 PCB 布線完成,一整套設計方法和流程。其目的是幫助讀者掌握 DDR 系統的設計思路和方法。隨著技術的發展,DDR 技術本身也有了很大的改變,DDR 和 DDR2 基本上已經被市場淘汰,而 DDR3 是目前存儲系統的主流技術。

并且,隨著設計水平的提高和 DDR 技術的普及,大多數工程師都已經對如何設計一個 DDR 系統不再陌生,基本上按照通用的 DDR 設計規范或者參考案例,在系統不是很復雜的情況下,都能夠一次成功設計出可以「運行」的 DDR 系統,DDR 系統的布線不再是障礙。但是,隨著 DDR3 通信速率的大幅度提升,又給 DDR3 的設計者帶來了另外一個難題,那就是系統時序不穩定。因此,基于這樣的現狀,在本書的這個章節中,著重介紹 DDR 系統體系的發展變化,以及 DDR3 系統的仿真技術,也就是說,在布線不再是 DDR3 系統設計難題的情況下,如何通過布線后仿真,驗證并保證 DDR3 系統的穩定性是更加值得關注的問題。 多端口矩陣測試DDR3測試系列

標簽: DDR5測試
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