如果PCB的設計密度不高，用戶有可能在DDR顆粒的引腳附近找到PCB過孔，這時可以用焊接或點測探頭在過孔上進行信號測量。DDR總線信號質量測試時經常需要至少同時連接CLK、DQS、DQ等信號，且自動測試軟件需要運行一段時間，由于使用點測探頭人手很難長時間同時保持幾路信號連接的可靠性，所以通常會使用焊接探頭測試。有時為了方便，也可以把CLK和DQS焊接上，DQ根據需要用點測探頭進行測試。有些用戶會通過細銅線把信號引出再連接示波器探頭，但是因為DDR的信號速率很高，即使是一段1cm左右的沒有匹配的銅線也會嚴重影響信號的質量，因此不建議使用沒有匹配的銅線引出信號。有些示波器廠商的焊接探頭可以提供稍長一些的經過匹配的焊接線，可以嘗試一下這種焊接探頭。圖5.13所示就是一種用焊接探頭在過孔上進行DDR信號測試的例子。DDR 設計可分為四個方面：仿真、互連設計、有源信號驗證和功能測試。內蒙古DDR一致性測試測試流程

以上只是 一 些進行DDR讀/寫信號分離的常用方法，根據不同的信號情況可以做選 擇。對于DDR信號的 一 致性測試來說，用戶還可以選擇另外的方法，比如根據建立/保持 時間的不同進行分離或者基于CA信號突發時延的方法(CA高接下來對應讀操作，CA低 接下來對應寫操作)等，甚至未來有可能采用一些機器學習(Machine Learning)的方法對 讀/寫信號進行判別。讀時序和寫時序波形分離出來以后，就可以方便地進行波形參數或者 眼圖模板的測量。

克勞德高速數字信號測試實驗室 內蒙古DDR一致性測試測試流程DDR5 一致性測試應用軟件。

為了針對復雜信號進行更有效的讀/寫信號分離，現代的示波器還提供了很多高級的信號 分離功能，在DDR測試中常用的有圖形區域觸發的方法和基于建立/保持時間的觸發方法。

圖形區域觸發是指可以用屏幕上的特定區域(Zone)定義信號觸發條件。用 區域觸發功能對DDR的讀/寫信號分離的 一 個例子。用鎖存信號DQS信號觸發可以看到 兩種明顯不同的DQS波形， 一 種是讀時序的DQS波形，另 一 種是寫信號的DQS波形。打 開區域觸發功能后，通過在屏幕上的不同區域畫不同的方框，就可以把感興趣區域的DQS 波形保留下來，與之對應的數據線DQ上的波形也就保留下來了。

DDR4/5與LPDDR4/5 的信號質量測試

由于基于DDR顆?；駾DR DIMM的系統需要適配不同的平臺，應用場景千差萬別， 因此需要進行詳盡的信號質量測試才能保證系統的可靠工作。對于DDR4及以下的標準 來說，物理層一致性測試主要是發送的信號質量測試；對于DDR5標準來說，由于接收端出 現了均衡器，所以還要包含接收測試。

DDR信號質量的測試也是使用高帶寬的示波器。對于DDR的信號，技術規范并沒有 給出DDR信號上升/下降時間的具體參數，因此用戶只有根據使用芯片的實際快上升/ 下降時間來估算需要的示波器帶寬。通常對于DDR3信號的測試，推薦的示波器和探頭的帶寬在8GHz;DDR4測試建議的測試系統帶寬是12GHz;而DDR5測試則推薦使用 16GHz以上帶寬的示波器和探頭系統。 DDR4 總線物理層仿真測試和協議層的測試方案；

如果PCB的密度較高，有可能期望測量的引腳附近根本找不到合適的過孔(比如采用雙面BGA貼裝或采用盲埋孔的PCB設計時),這時就需要有合適的手段把關心的BGA引腳上的信號盡可能無失真地引出來。為了解決這種探測的難題，可以使用一種專門的BGAInterposer(BGA芯片轉接板，有時也稱為BGA探頭)。這是一個專門設計的適配器，使用時要把適配器焊接在DDR的內存顆粒和PCB板中間，并通過轉接板周邊的焊盤把被測信號引出。BGA轉接板內部有專門的埋阻電路設計，以盡可能減小信號分叉對信號的影響。一個DDR的BGA探頭的典型使用場景。DDR數據總線的一致性測試。廣西DDR一致性測試檢修

DDR眼圖讀寫分離的傳統方法。內蒙古DDR一致性測試測試流程

除了DDR以外，近些年隨著智能移動終端的發展，由DDR技術演變過來的LPDDR (Low-Power DDR,低功耗DDR)也發展很快。LPDDR主要針對功耗敏感的應用場景，相 對于同一代技術的DDR來說會采用更低的工作電壓，而更低的工作電壓可以直接減少器 件的功耗。比如LPDDR4的工作電壓為1. 1V,比標準的DDR4的1.2V工作電壓要低一 些，有些廠商還提出了更低功耗的內存技術，比如三星公司推出的LPDDR4x技術，更是把 外部I/O的電壓降到了0.6V。但是要注意的是，更低的工作電壓對于電源紋波和串擾噪 聲會更敏感，其電路設計的挑戰性更大。除了降低工作電壓以外，LPDDR還會采用一些額 外的技術來節省功耗，比如根據外界溫度自動調整刷新頻率(DRAM在低溫下需要較少刷 新)、部分陣列可以自刷新，以及一些對低功耗的支持。同時，LPDDR的芯片一般體積更 小，因此占用的PCB空間更小。內蒙古DDR一致性測試測試流程