DDR的信號探測技術

在DDR的信號測試中，還有 一 個要解決的問題是怎么找到相應的測試點進行信號探 測。由于DDR的信號不像PCle、SATA、USB等總線 一 樣有標準的連接器，通常都是直接 的BGA顆粒焊接，而且JEDEC對信號規范的定義也都是在內存顆粒的BGA引腳上，這就 使得信號探測成為一個復雜的問題。

比如對于DIMM條的DDR信號質量測試來說，雖然在金手指上測試是方便的找到 測試點的方法，但是測得的信號通常不太準確。原因是DDR總線的速率比較高，而且可能 經過金手指后還有信號的分叉，這就造成金手指上的信號和內存顆粒引腳上的信號形狀差異很大。 DDR5 一致性測試應用軟件。PCI-E測試DDR一致性測試方案

軟件運行后，示波器會自動設置時基、垂直增益、觸發等參數并進行測量，測量結果會 匯總成一個html格式的測試報告，報告中列出了測試的項目、是否通過、spec的要求、實測 值、margin等。

使用自動測試軟件的優點如下所述：

?自動化的設置向導避免連接和設置錯誤；

?快速的測量和優化的算法減少測試時間；

?可以測試JEDEC規定的速率也可以測試用戶自定義的數據速率;

?獨有的自動讀寫分離技術簡化了測試操作；

?能夠多次測量并給出一個統計的結果；

?能夠根據信號斜率自動計算建立/保持時間的修正值。 PCI-E測試DDR一致性測試方案DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調試和驗證的總線解碼器。

通常我們會以時鐘為基準對數據信號疊加形成眼圖，但這種簡單的方法對于DDR信 號不太適用。DDR總線上信號的讀、寫和三態都混在一起，因此需要對信號進行分離后再進 行測量分析。傳統上有以下幾種方法用來進行讀/寫信號的分離，但都存在一定的缺點。

(1)根據讀/寫Preamble的寬度不同進行分離(針對DDR2信號)。Preamble是每個Burst的數據傳輸開始前，DQS信號從高阻態到發出有效的鎖存邊沿前的  一段準備時間，有些芯片的讀時序和寫時序的Preamble的寬度可能是不一樣的，因此可以  用示波器的脈沖寬度觸發功能進行分離。但由于JEDEC并沒有嚴格規定寫時序的  Preamble寬度的上限，因此如果芯片的讀/寫時序的Preamble的寬度接近則不能進行分  離。另外，對于DDR3來說，讀時序的Preamble可能是正電平也可能是負電平；對于  DDR4來說，讀/寫時序的Preamble幾乎一樣，這都使得觸發更加難以設置。

前面介紹過，JEDEC規范定義的DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的，但 是通常DDR芯片采用BGA封裝，引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉接板的方 式，其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳 處的信號質量， 一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進行軟件的 去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數模型 文件(通常通過仿真或者實測得到),并根據實際測試點和期望觀察到的點之間的傳輸函數， 來計算期望位置處的信號波形，再對這個信號做進一步的波形參數測量和統計。展示了典型的DDR4和DDR5信號質量測試環境，以及在示波器中進行去嵌入操作的 界面。DDR2 3 4物理層一致性測試；

DDR4/5與LPDDR4/5 的信號質量測試

由于基于DDR顆?；駾DR DIMM的系統需要適配不同的平臺，應用場景千差萬別， 因此需要進行詳盡的信號質量測試才能保證系統的可靠工作。對于DDR4及以下的標準 來說，物理層一致性測試主要是發送的信號質量測試；對于DDR5標準來說，由于接收端出 現了均衡器，所以還要包含接收測試。

DDR信號質量的測試也是使用高帶寬的示波器。對于DDR的信號，技術規范并沒有 給出DDR信號上升/下降時間的具體參數，因此用戶只有根據使用芯片的實際快上升/ 下降時間來估算需要的示波器帶寬。通常對于DDR3信號的測試，推薦的示波器和探頭的帶寬在8GHz;DDR4測試建議的測試系統帶寬是12GHz;而DDR5測試則推薦使用 16GHz以上帶寬的示波器和探頭系統。 DDR 設計和測試解決方案；DDR測試DDR一致性測試保養

DDR4 和 LPDDR4 發射機一致性測試應用軟件的技術指標。PCI-E測試DDR一致性測試方案

每個DDR芯片獨享DOS，DM信號;四片DDR芯片共享RAS#，CAS#，CS#，WE#控制信號。

DDR工作頻率為133MHz。

DDR 控制器選用Xilinx公司的 FPGA，型號為XC2VP30 6FF1152C

得到這個設計需求之后，我們首先要進行器件選型，然后根據所選的器件，準備相關的設計資料。一般來講，對于經過選型的器件，為了使用這個器件進行相關設計，需要有如下資料。

器件數據手冊Datasheet:這個是必須要有的。如果沒有器件手冊，是沒有辦法進行設計的(一般經過選型的器件，設計工程師一定會有數據手冊)。 PCI-E測試DDR一致性測試方案